国立大学法人東北大学（総長：大野 英男／以下、東北大学）多元物質科学研究所（IMRAM）の陣内 浩司教授、樋口 剛志助教と防衛大学校の萩田 克美講師は共同で、従来の集束イオンビーム-走査型電子顕微鏡（FIB-SEM）による3次元ナノ計測の分解能と計測時間を、最新のディープラーニング（DL）等の人工知能（AI）技術を用いて高解像度化・高速化する計測技術の試作に成功しました。ポリマー中に分散させたシリカ粒子の3次元凝集構造の2nmの解像度での計測を実現し、さらに、非対称低解像度計測を模擬したデータに対するDL超解像処理の試験において、試作した計測手法を実証しました。本技術により、実用上の解像度を確保しつつ計測時間を短縮するハイスループット化や、高解像度化が可能となります。 今回の実例に限らず様々なソフトマテリアル複合材料に展開可能で、今後、DLなどのAIを用いた材料開発のひとつとして期待されます。

この研究成果は、4月12日午前10時（英国時間）にNature Publishing Group の電子ジャーナル Scientific Reports に掲載されました。

プレスリリース本文（PDF）

論文情報

“Super-resolution for asymmetric resolution of FIB-SEM 3D imaging using AI with deep learning”
Katsumi Hagita, Takeshi Higuchi & Hiroshi Jinnai
Scientific Reportsvolume 8, 5877(2018)
doi:10.1038/s41598-018-24330-1

▶ 高分子物理化学研究分野（陣内研究室）
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