2026年05月27日、日本顕微鏡学会　第82回学術講演会において、高橋幸生研究室の佐々木雄平さん（D3）が「優秀口頭発表賞」を受賞しました。

■ 受賞課題：テンダーX線スペクトロタイコグラフィ計測システムの開発とミクロン厚高分子の3次元硫黄化学状態イメージング
■ 受賞日：2026年05月27日

• 詳細（公益社団法人 日本顕微鏡学会　第82回学術講演会ウェブサイト）
• 可視化情報計測研究分野（高橋幸生研究室）