2026年05月27日、日本顕微鏡学会　第82回学術講演会 において、高橋幸生研究室の大川成さん（D2）が「優秀口頭発表賞」を受賞しました。

■ 受賞課題：テンダーX線タイコグラフィ-CT法によるCMOSイメージセンサー画素構造の高分解能三次元イメージング
■ 受賞日：2026年05月27日