Facilities
Synthesis
横型透明電気炉(2台)/ Horizontal gold furnace (2 units) |
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縦型透明電気炉(2台)/ Vertical gold furnace (2 units) |
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ロータリーキルン / Rotary kiln |
1800℃高温熱処理装置 / High temperature oven up to 1800℃ |
加熱圧縮装置 / Hot-pressing device |
マッフル炉 / Muffle furnace |
真空グローブボックス(3台)/ Vacuum glove box (3 units) |
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スパッタリング装置 / Sputtering system |
マイクロ波合成装置 / Microwave synthesis reactor |
一方向凍結装置 / Unidirectional freezing system |
凍結乾燥装置 / Freeze drying system |
3Dスキャナー / 3D scanner |
3Dプリンター / 3D printer |
Analysis
透過型電子顕微鏡(TEM) / Transmission electron microscope (TEM) |
X線光電子分光装置(XPS) / X-ray photoelectron spectrometer (XPS) |
X線回折装置(XRD) / X-ray diffractometer (XRD) |
ガス/蒸気吸着量測定装置(2台)/ Gas/vapor adsorption measurement device (2 units) |
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ガス吸着量測定装置 / Gas adsorption measurement device |
熱重量-示差走査熱-質量分析装置(TG-DSC-MS) / Thermogravimeter-Differential scanning calorimetry-Mass spectrometry (TG-DSC-MS) |
熱重量-示差熱分析装置(TG-DTA) / Thermogravimeter-Differential thermal analyzer (TG-DTA) |
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熱重量分析装置(TG) / Thermogravimeter (TG) |
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昇温脱離-ガス分析装置(TPD-GC) / Temperature programmed desorption-Gas chromatography (TPD-GC) |
1800℃真空昇温脱離分析装置(TPD) / Vacuum temperature programmed desorption (TPD) up to 1800℃ |
紫外可視分光光度計(UV/vis) / Ultraviolet/visible spectrometer (UV/vis) |
蛍光分光光度計 / Fluorescence spectrophotometer |
In-situ拡散反射フーリエ変換赤外分光光度計(FT-IR) / In-situ diffusion reflectance Fourier transform infrared spectrometer (FT-IR) |
レーザーゼータ電位計 / Laser zeta potential analyzer |
粒度分布測定装置 / Particle size analyzer |
マイクロカロリメーター / Micro calorimeter |
原子間力顕微鏡(AFM) / Atomic force microscope (AFM) |
デジタル顕微鏡 / Digital microscope |
Performance
電気化学測定装置/ Electrochemical measurement system |
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充放電装置 / Battery charge/discharge device |
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高圧ガス吸着装置 / High pressure gas adsorption analyzer |
試験機 / Testing machine |
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ガスクロマトグラフィー(GC) / Gas chromatography (GC) |
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高速液体クロマトグラフィー(HPLC) / High performance liquid chromatography (HPLC) |
Frequently used common facilities