Facilities
透過型電子顕微鏡および周辺機器
JEM-2010FEF：日本電子製インコラムオメガフィルター搭載
TEM操作パネル
SDD検出器
ポンピングステーション
イオンクリーナー
DITABISイメージングプレート現像機
TEM試料作製用機器
TEM mill
Glove box
回転研磨機
カーボンコーター
オスミウムコーター
マイクロソー
カッター
実体顕微鏡＋カメラ
ワークステーション
GPUワークステーション
Ryzenクラスターシステム
GPU計算機
GPU計算機
Xeon計算機
Xeon計算機