装 置

(English/Japanese)

(1) エネルギーフィルター透過型電子顕微鏡 (JEM2010FEF)

加速電圧 : 20-200 kV 電界放出型電子銃 (Schottky 型) オメガフィルター (エネルギー分散 : 1.1 micron/eV at 200 kV) 観察エネルギー範囲 : 0-2,000 eV 点分解能 : 0.19 nm 最小プローブ径 : 0.5 nm 試料傾斜角 : 20 degree X線 分析装置 : B-U 検出系 : イメージングプレート(IP), CCDおよびフィルム アクティブ除震台

(2)電子エネルギー損失分光電子顕微鏡 (JEM-HREA80)

モノクロメーターおよび分光器 : 減速型ウィーンフィルター 電界放出型電子銃 (Schottky 型) 加速電圧 : 40-60 kV エネルギー分解能 : 12 meV - 0.3 eV 空間分解能 : 30-180nm 検出系 : CCD

(3) 透過型電子顕微鏡 (JEM-2010)

加速電圧 : 20-200 kV 点分解能 : 0.23 nm X線 分析装置 : B-U 検出系 : イメージングプレート(IP)およびフィルム

(4) 計算機

• Opteronクラスターシステム
  Opteron146 2.0GHz（16ノード + 1コントローラ）
• デュアルコアAthlonクラスターシステム Athlon 64 X2 4800+（16ノード + 1コントローラ）
• Xeonワークステーション
  Xeon woodcrest (Dual core * Dual CPU)

(5) 透過型走査電子顕微鏡 (TKP)

加速電圧 : 200 kV 点分解能 : 0.1 nm X線 分析装置 : B-U 検出系 : CCDカメラおよびイメージングプレート(IP)