組成分析装置

元素分析装置

1.機器名：ミクロコーダーJM10

製造元：（株）ジェイサイエンスラボ
型番　：JM10

差動熱伝導時計の検出感度により有機化合物のC,H,N元素を定量する。

2.機器名：ヤナコMT-6

製造元：（株）ヤナコ
型番　：MT-6

差動熱伝導時計の検出感度により有機化合物のO元素を定量する。

3.機器名：有機ハロゲン・S分析システム

製造元：（株）ヤナコ　、（株）東亜
型番　：YHS-１１型

イオンクロマト法により有機化合物中のF,Cl,Br,I,S元素を定量する。

4.機器名：酸素・窒素分析装置

製造元：堀場
型番　：EMGA-620W

鉄鋼、非鉄、電子材料中の酸素、窒素を高精度に同時分析する装置です。ppmオーダの極微量、迅速、高精度分析が可能

5.機器名：炭素・硫黄分析装置

製造元：堀場
型番　：EMIA-920

鉄鋼、非鉄、電子材料中の炭素、硫黄を高精度に同時分析する装置であり、極微量、迅速、高精度分析が可能

ＩＣＰ発光分析装置（ICP-AES）

製造元：Perkin Elmer
型番　：Optima 3300XL
溶液中の元素にエネルギーを与えて発光させ、光の波長と強度から元素の種類と濃度を決定する。約70の元素を測定できる。

機器名：CCD多元素同時型 ICP発光分光分析装置
製造元：SPECTRO
型番　：ARCOS EOPシステム
波長範囲130nm～770nmで分析できる。複数のCCD検出器をローランド円上に連続的に並べることで、分光された全波長を同時検出する。
VUVを活用することで分析のフレキシビリティが向上し、VUVに最も高感度な波長を有するハロゲン（Cl、Br、I）の分析が可能。

微小部走査X線分析装置 (EPMA)

機器名：電子プローブ微小部分析装置
製造元：日本電子
型番　：JXA-8200
種々の固体表面を微少領域での非破壊分析する装置として代表的なものである。試料の形態観察を始め、元素の定性分析、定量分析、元素の分布状況などの情報が得られる上、多様な試料に対応できる

多機能型素材分析装置

1.機器名：XPS（X線光電子分光装置）：デュアルアノードX線源、モノクロX線源搭載
製造元：アルバック・ファイ社
型番　：PHI5600

2.機器名：D-SIMS（四重極型二次イオン質量分析装置）：O2+,Cs+のデュアルイオン源搭載
製造元：アルバック・ファイ社
型番　：PHI6600
固体表面近傍の評価解析を行うためXPS,SAM,SIMSを搭載した複合型の表面分析装置です。また、表面改質をするため6種類（反応、加熱、破断、蒸着、排気、スパッタエッチング）を有する試料処理システムが装備されています。試料作製装置には湿式用の研磨器と切断機、試料包埋器それにデジタルHD顕微鏡、光学顕微鏡が含まれます。試料作製装置は実験用の試料作製のほかに表面分析装置の試料調整に利用されています。デジタルHD顕微鏡もまた３０～３０００倍率で試料観察や試料調整に利用されています。

X線光電子分光装置

製造元：島津
型番　：ESCA-3400
分析対象は固体試料で、広く金属や無機・有機材料に適応でき、試料表面から数ナノメートル程度の深さまでの組成分析や化学状態分析が行なえます。また、Arなどのイオンを照射して試料表面をスパッタリングすることで、深さ分析を行なうことができます。

飛行時間型二次イオン質量分析装置 (TOF-SIMS）

製造元：ION-TOF
型番　：TOF-SIMS5-100
一次イオン源に質量数が大きく、クラスターの発生量が多いBiを用いているため、高質量数側の二次イオン収率が高く、ポリマー材料・生体材料等の有機分子も、高感度にその化学構造まで調べることが可能である。また、サブミクロンオーダーでのマッピング、デュアルビーム法による深さ方向分析が可能なことから、その用途は幅広い分野に渡っている。

周波誘導結合プラズマ質量分析装置（ICP-MS）

機器名：高分解能ICP質量分析
製造元：ThermoFisher SCIENTIFIC
型番　：ELEMENT 2
本装置は試料溶液を高周波誘導結合プラズマ中に導入し、溶液中の微量元素をイオン化します。このイオンを二重収束型質量分析計に導き、質量分析し成分の同定を行います。フッ化水素の入った試料にも対応します。