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2006/09/03 「Origin of defect-insensitive emission
probability in In-containing (Al,In,Ga)N alloy
semiconductors」　Nature Materials誌に掲載！

 

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「Origin of defect-insensitive emission probability in In-containing (Al,In,Ga)N alloy semiconductors」が9/3、Nature Materialsのadvanced on-line誌に掲載されました。abstractはこ ちらへ。。。
同研究成果は読 売新聞・日経産業新聞・化学工業日報・日刊工業新聞にも取り上げられました。詳しくはこちらへ。
独立行 政法人科学技術振興機構(JST)や技術者を応援する情報サイトTech-On!のHPでも 紹介されています。

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last update : 2007/01/29