Invited talks
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1985-89,
1990-94,
1995-99,
2000-02,
2003-05,
2006-08,
2009-11
2012-14
2015-17
2018-20
2021-23
2024-26
1985-1989
- 収束電子回折法による結晶対称性の決定
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 第1回分析電顕討論会, 1985/9/26, 東大生産研.
- 収束電子回折（CBED）法
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 第3回分析電顕討論会, 1987/9/18, 東大生産研.
1990-1994
- 高分解能EELS装置の開発
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 第6回分析電顕討論会, 1990/9/19, 東大生産研.
- 収束電子回折法による格子欠陥研究
寺内正己, 石川 明, 田中通義
日本物理学会 X線・粒子線,イオン結晶・光物性合同シンポジウム, 1990/10/3, 岐阜大.
- 収束電子回折法による空間群、超空間群（4次元空間群）の決定
寺内正己, 高橋真理子, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡の基礎と新手法研究部会, 1990/12/12, 埼玉厚生年金休暇センター.
- 超高分解能エネルギー分析電子顕微鏡の開発と応用
寺内正己, 葛尾竜一, 田中通義, 津野勝重, 大山純一
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡の基礎と新手法研究部会, 1991/12/6, 国民年金保養センター(太宰府).
- 超高分解能EELS
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 第8回分析電顕討論回, 1992/9/1, 北とぴあ(東京北区).
- TEM-高分解能EELSによる固体の電子構造の研究
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡周辺機器の活用・開発とその応用に関する研究部会, 1992/12/11, 千里ライフサイエンスセンター(大阪).
- 透過型高分解能EELSによるフラーレンの研究
寺内正己, 葛尾竜一, 田中通義, 斉藤弥八, 篠原久典
日本物理学会 イオン結晶・光物性,分子性固体・液晶・有機導体合同シンポジウム, 1993/10/14, 岡山大.
- コヒーレント収束電子回折
寺内正己, 田中通義, 津田健治, 上村 理
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡による材料研究のための新手法研究部会, 1993/11/26, 藤ヶ丘サンプラザ(名古屋).
- FETEMとコヒーレント収束電子回折
寺内正己, 津田健治, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 関東支部講演会, 1994/3/18, 東京慈恵会医大.
1995-1999
- 透過型EELS法による固体の電子構造の研究
寺内正己, 田中通義
日本物理学会 X線・粒子線分科シンポジウム, 1996/10/2, 山口大.
- EELSによる電子構造解析
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡の周辺機器の活用・開発とその応用に関する研究部会, 1996/11/20, 阪大産研.
- 電子回折法
寺内正己
日本電子顕微鏡学会 第7回電子顕微鏡大学(講師), 1997/4/22, 東大山上会館.
- High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy microscope
M.Terauchi and M.Tanaka
7th conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, 1998/4/21, Germany(Irsee).
- 高分解能エネルギー分析電子顕微鏡
寺内正己, 田中通義
原子衝突研究協会 第23回研究会, 1998/8/22, 慶応大(神奈川).
- 透過型高分解能EELS電子顕微鏡による電子構造解析
寺内正己, 田中通義
ファインセラミックスセンターセミナー, 1998/10/23, JFCC(名古屋).
- EELSによるBNナノチューブの電子構造
寺内正己, 田中通義, 齋藤弥八
日本電子顕微鏡学会 第43回シンポジウム, 1998/10/29, 千葉大.
- Electron energy-loss spectroscopy study of the electronic structure of boron-nitride nanotubes
M.Terauchi, M.Tanaka and Y.Saito
6th NIRIM International Symposium on Advanced Materials, 1999/3/1, NIRIM(Tsukuba).
- 高分解能EELSによるBNの電子構造の研究
寺内正己, 田中通義
日本物理学会 特別講演(領域10), 1999/9/27, 岩手大.
2000-2002
- 高分解能EELS電子顕微鏡
寺内正己
新世紀の高感度・高分解能電子顕微鏡ワークショップ, 2000/1/27, 金材技研.
- High energy-resolution EELS microscope and its application
M.Terauchi and M.Tanaka
The 7th NIRIM International Symposium on Advanced Materials, 2000/3/1, Hayama(Japan).
- High energy-resolution EELS
M.Terauchi and M.Tanaka
International Symposium on Spectroscopy of Materials, 2000/3, Tegernsee(Germany).
- 分析電子顕微鏡の基礎と最新技術-EELS
寺内正己
金属学会セミナー「最新電顕法の基礎と応用」, 2000/3/28, 横浜国大.
- 高分解能電子エネルギー損失分光電子顕微鏡の開発と応用 (学会賞受賞講演)
寺内正己
日本電子顕微鏡学会 第56回学術講演会, 2000/5/18, 北とぴあ(東京北区).
- High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy based on electron microscopy
M.Terauchi and M.Tanaka
2nd meeting of International Union of Microbeam Analysis Societies, 2000/7/10, Hawaii.
- Advances in symmetry analysis by convergent-beam electron diffraction
M.Terauchi and M.Tanaka
2nd meeting of International Union of Microbeam Analysis Societies, 2000/7/11, Hawaii.
- High energy-resolution EELS and X-ray spectroscopy
M.Terauchi and M.Tanaka
8th conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, 2000/11/17, Matsue(Japan).
- TEM法による構造解析の基礎
寺内正己
日本電子顕微鏡学会関西支部 電子顕微鏡技術研究会, 2000/12/8, 阪大.
- 0.2eVエネルギー分解能分析電子顕微鏡の開発
田中通義, 寺内正己, 津田健治, 齊藤晃, 本田敏和, 津野勝重, 成瀬幹夫, 富田健, 金山俊克, 向井雅貴
日本電子顕微鏡学会 第57回学術講演会, 2001/5/12, アクロス福岡.
- A sub-eV resolution soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to obtain the density of states of the valence band
M.Terauchi, H.Yamamoto and M.Tanaka
Microscopy & Microanalysis, 2001/8/7, Long Beach(USA).
- 電子顕微鏡による価電子帯DOS測定法の開発
寺内正己
日本電子顕微鏡学会 第46回シンポジウム, 2001/11/16, 物質・材料研究機構.
- Development of a high energy-resolution soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope
M.Terauchi
Strategies and Advances in Atomic Level Spectroscopy and Analysis Workshop, 2002/5/7, Guadeloupe(French West Indies).
- 高エネルギー分解能分析電子顕微鏡の開発
田中通義, 寺内正己, 津田健治, 斎藤 晃, 向井雅貴, 金山俊克, 富田健, 成瀬幹夫, 津野勝重, 本田敏和
日本電子顕微鏡学会 第58回学術講演会, 2002/5/15, 大阪国際交流センター.
- Development of An 0.2eV Energy Resolution Analytical Electron Microscope
M.Tanaka, M.Terauchi, K.Tsuda, K.Saitoh, M.Mukai, T.Kaneyama, T.Tomita, K.Tsuno, M.Kersker, M.Naruse, and T.Honda
Microscopy & Microanalysis, 2002/8/8, Quebec(Canada).
- TEMによる高分解能WDSの可能性
寺内正己
日本顕微鏡学会 第47回シンポジウム, 2002/11/28, 仙台戦災復興記念館.
2003-2005
- 高分解能WDSの開発―TEM-XESの可能性―
寺内正己
日本顕微鏡学会 高分解能電子顕微鏡研究会, 2003/2/28, 北海道大学.
- High energy-resolution EELS and XES analysis of BN materials
M.Terauchi
10th International Symposium on Advanced Materials, 2003/3/13, NIMS(Tsukuba).
- 電子顕微鏡による物性解析
寺内正己
ナノテク総合支援プロジェクトユーザー会議, 2003/3/19, 物質・材料研究機構.
- 準結晶・近似結晶の疑ギャップ―実験的立場から―
寺内正己
日本物理学会 領域6シンポジウム, 2003/3/30, 東北大.
- ナノスケールでの電子状態解析
寺内正己
日本結晶学会, 2003/12/1, 熊本大
- EELSの高分解能化によって何がえられるか
寺内正己
日本顕微鏡学会 第48回シンポジウム, 2003/12/7, 東京医科歯科大.
- Development of a wavelength-dispersive soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to investigate the density of states of the valence band
M.Terauchi
8th Asia-Pacific conference on electron microscopy, 2004/6/9, Kanazawa(Japan).
- A CBED technique for observation of polarity
M.Terauchi
2nd German-Japanese school on CBED, 2004/6/22, TU-Ilmenau(Germany).
- Detection of the As-doped region in silicon by convergent-beam electron diffraction
M.Terauchi, H.Mitsuishi, K.Tsuda and K.Kawamura
2nd German-Japanese school on CBED, 2004/6/23, TU-Ilmenau(Germany).
- A high energy-resolution wavelength-dispersive soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to investigate valence electrons
M.Terauchi
Microscopy & Microanalysis, 2004/8/3, Savannah(USA).
- ナノスケールでの電子状態解析
寺内正己
理研シンポジウム「多元素ナノ粒子の製造と評価技術」, 2004/8/23, 理化学研究所.
- 電子顕微鏡用高分解能X線発光分光装置の開発
寺内正己
日本学術振興会ﾏｲｸﾛﾋﾞｰﾑｱﾅﾘｼｽ141委員会 第117回研究会, 2004/9/17, 名古屋大学.
- TEM用WDSの開発と価電子状態分析
寺内正己
日本顕微鏡学会第29回関東支部講演会, 2005/3/5, 東京医科大学病院.
- High-resolution electron spectroscopy - EELS/XES
Masami Terauchi
日本物理学会 領域6・領域10合同シンポジウム, 2005/3/26, 東京理科大.
- Soft-X-ray emission spectroscopy based on TEM
M. Terauchi
EDGE2005 International EELS workshop, 2005/5/3, Grundlsee(Austria).
- モノクロEELSによる高分解能電子状態解析
寺内正己、佐藤庸平
日本顕微鏡学会, 2005/6/2, 筑波.
- ボロンクラスター物質群の電子線分光法による物性研究
寺内正己
日本応用物理学会, 2005/9/10, 徳島（徳島大）.
- TEM-WDSによる材料研究の可能性
寺内正己
日本顕微鏡学会 第50回シンポジウム, 2005/11/2, 福岡（九大）.
2006-2008
- Recent advances in spectroscopy methods based on TEM
M. Terauchi
10th SANKEN Int. Symp. on Nanoscience and Nanotechnology 2006, 2006/9/20, Osaka Univ.
- 電子顕微鏡用XES装置開発
寺内正己
研究会「軟X線光学素子の生成と評価の現状と将来展望(V)」, 2007/3/7, 日本原子力機構関西光科学研究所.
- 高エネルギー分解能Ｘ線検出器による物性研究の新しい可能性
寺内正己
日本物理学会, 領域10シンポジウム, 2007/3/19, 鹿児島大学.
- 高分解能WDSシステムの開発とその方向性
寺内正己, 米田雄一, 小池雅人
日本顕微鏡学会 第63回学術講演会, 2007/5/22, 新潟（朱鷺メッセ）.
- ナノスケールX線発光分析の新展開－X線多層膜回折格子の応用
寺内正己, 米田雄一, 小池雅人, 石野雅彦, 今園孝志
第8回光量子科学研究シンポジウム, 2007/6/5, 日本原子力機構関西光科学研究所.
- Recent development of soft-X-ray emission spectroscopy instruments for a conventional analytical transmission electron microscope
M. Terauchi and M. Koike
11th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, 2007/9/28, Sonoma county (USA).
- 分析電子顕微鏡法の新展開
寺内正己
日本顕微鏡学会シンポジウム, 2007/10/19, 徳島（徳島大学）.
- 電子顕微鏡によるメッキ膜構造解析
寺内正己
エレクトロニクス実装学会 錫ウィスカ研究会, 2007/10/29, 東京.
- Total electronic structure analysis by EELS & SXES based on transmission electron microscopy
M.Terauchi
The 1st Int. Symp. on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (6/29-30, Nagoya), 110-111 (2008).
- WDSによる状態分析
寺内正己
第24回分析電子顕微鏡討論会, 2008/9/2, 幕張メッセ.
- Nano-spectroscopies based on transmission electron microscopy
Masami Terauchi
4th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium (9/29-10/1, Osaka), O2-1 (2008).
- 透過電子顕微鏡を使ったすずめっき膜の構造解析
寺内正己、田邉豊和、佐藤二美
日本金属学会 ナノプレーティング研究会, 2008/9/30, 慶応大学.
- Recent development of soft-X-ray emission spectroscopy instruments for a conventional analytical transmission electron microscope
M.Terauchi and M.Koike
9th Asia-Pacific Microscopy Conference (11/2-7, Korea), (2008).
2009-2011
- 電子エネルギー損失分光法の基礎
寺内正己
日本電子顕微鏡学会、2009/5/26、仙台国際センター.
- Development of TEM-SXES instruments for valence electron spectroscopy
M. Terauchi
Microscopy & Microanalysis 2009, 2009/7/28, Richmond.
- TEM-EELS/SXESによるナノスケール電子状態解析
寺内正己、佐藤庸平
応用物理学会 春季講演会シンポジウム「ナノスケール分光法による顕微評価・解析技術の最前線」、2010/3/17、東海大.
- Valence electron spectroscopy by SXES-TEM
M.Terauchi
6th International Workshop on Nano-Scale Spectroscopy and Nanotechnology (NSS6), 2010/10/25-29, Kobe University.
- 広帯域多層膜回折格子を搭載した軟X線発光分光システムの開発
寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、河内哲哉、今園孝志、長谷川登、
小枝勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、倉本智史
第11回X線結像光学シンポジウム、2011/11/5, 東北大.
2012-2014
- TEM studies on crystal and electronic structures of Quasicrystals
M.Terauchi
The 30 years of Quasicrystal International Conference at Taipei Tech, May 7-9, 2012, Taipei Taiwan.
- ナノスケール軟X線発光分光装置開発とその応用
寺内正己
第48回Ｘ線分析研究懇談会、2012/11/1、名古屋大学.
- ナノスケール軟X線発光分光システムの開発
寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、河内哲哉、今園孝志、長谷川登、小枝勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、倉本智史
日本顕微鏡学会 第56回シンポジウム、2012/11/20、北海道大学.
- 電子線を用いた顕微解析技術の進化を目指して
寺内正己、小池雅人、今園孝志
日本顕微鏡学会 第57回シンポジウム、2013/11/15、名古屋.
- 電子顕微鏡を用いたX線分析の新たな可能性
寺内正己
軟X線分析セミナー2013、2013/11/27、日本電子.
- 顕微SXES技術の開発と材料評価への応用
寺内正己
第7回風戸賞受賞講演会、2014/5/11、幕張メッセ.
- 電子顕微鏡用SXES技術の現状と今後の展望
寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、今園孝志、小枝勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、倉本智史
日本顕微鏡学会 第60回学術講演会、2014/5/12、幕張メッセ.
- Present State of TEM-SXES Analysis and its Application to SEM aiming Chemical Analysis of Bulk Materials
M.Terauchi, H.Takahashi, N.Handa, T.Murano, M. Koike, T.Imazono, M.Koeda, T.Nagano, H.Sasai, Y.Oue,
Z.Yonezawa and S.Kuramoto
Microscopy & Microanalysis, 2014/8/6, Hartford (USA).
- Valence Electron States of Carbon Materials studied by TEM-SXES
M.Terauchi
Microscopy & Microanalysis, 2014/8/7, Hartford (USA).
- 電子顕微鏡での軟X線発光分析技術の概要とその可能性について
寺内正己
東北大学 産学連携先端材料研究開発センター セミナー、2014/11/18、東北大.
- EM用軟X線発光分析技術開発のこれまでと今後の展望
寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、今園孝志、小枝勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、
米澤善央、倉本智史
日本顕微鏡学会 第56回九州支部学術講演会、2014/12/6、宮崎市民プラザ.
2015-2017
- Soft-X-ray emission spectroscopy with electron microscopy and its applications for material
characterization
M. Terauchi
NIMS Conference 2015, 15 July, Tsukuba (2015).
- 軟X線分光が拓く材料分析
寺内正己
日本物理学会 秋季大会、2015/9/18、関西大学.
- 軟X線発光分析技術の原理とその利用価値
寺内正己
JEOL Users Meeting EPMA・表面分析、2015/10/8、東京.
- 顕微SXESによるバルク試料の状態分析
寺内正己
名古屋工業大学、大型設備基盤センターセミナー、2016/3/15、名古屋.
- TEMによる分光技術の基礎と応用
寺内正己
日本学術振興会第141委員会 研修セミナー、2016/4/21、東京.
- 軟X線発光スペクトルには何が見えているか
寺内正己
JEOL Users Meeting EPMA・表面分析、2016/10/6、東京.
- 物質機能の可視化と電子線分光技術について
寺内正己
日本顕微鏡学会 第59回シンポジウム、2016/11/18、東京.
- 電子顕微鏡を用いた材料解析－LIB解析に何が有用か－
寺内正己
新型電池オープンラボ講演会、2017/7/6、神奈川大.
- 電子線を用いた局所状態分析と物質機能解析
寺内正己、佐藤庸平
分析電子顕微鏡討論会、2017/9/6、幕張メッセ.
- 軟X線発光分光の基礎とバルク状態分析
寺内正己
SCAN TECH 2017、2017/9/15、東京都市大.
2018-2020
- Soft X-ray emission spectroscopy with electron microscopy and its applications
for materials characterization
M. Terauchi
第42回KPSIセミナー、2018/8/24、量子科学技術研究開発機構関西光科学研究所.
- SXESの基礎と使い方
寺内正己
SXESスクール2018、2018/11/30、昭島.
- Introduction to soft-X-ray emission spectroscopy with electron microscope and historical perspective
M. Terauchi
Work shop of Australian Microbeam Analysis Society, 2019/2/11, Melbourne (Australia).
- Soft X-ray emission spectroscopy for chemical state analysis
M. Terauchi and Y. Sato
XVth Australian Microbeam Analysis Society symposium, 2019/2/13, Melbourne (Australia).
- Recent Progresses in Soft X-ray Emission Spectroscopy
M. Terauchi, T. Hatano, M. Koike, Alexander S. Pirozhkov, H. Sasai, T. Nagano, M. Takakura and T. Murano
EMAS 2019, 2019/5/23, Trondheim (Norway).
- Chemical State Mapping of Amorphous Carbon Films by Soft X-ray Emission Spectroscopy
M. Terauchi and Y. Sato
Microscopy and Microanalysis, 2019/8/8, Portland (USA).
- Functional imaging of p/n-controlled CaB6 and SrB6 bulk specimens by soft X-ray emission spectroscopy microscope
M. Terauchi, Y. Sato and M. Takeda
20th International Symposium on Boron, Borides and Related Materials, 2019/9/24, Niigata.
- SXESの基礎知識と使い方
寺内正己
SXESスクール2019、2019/11/27、昭島.
- A Study on Occupation Sites in M6C Carbide in High Chromium Cast Iron Using Statistical Beam-Rocking
TEM-EDS Analysis
S.Nusen, A.Wiengmoon, D.Morikawa, N.Azumi, T.Chairuangsri, K.Tsuda, M.Terauchi
6th Forum of Center for Advanced Materials Research and International Collaboration, 2020/10/1, Toyama
- Materials Analysis by using Electron Microscopes operated in IMRAM
M.Terauchi, H.Jinnai, Y.K.Sato, D.Morikawa, K.Tsuda, and Z.Akase
2020 ONLINE JOINT SYMPOSIUM Engineer a Better Tomorrow
Institute of Multidisciplinary Research for Advance Material & College of Engineering, 2020/11/30.
- SXESの基礎知識と使い方―何をどう見るか？―
寺内正己
第3回SXESスクール、2020/12/18、online.
- 顕微微SXES技術の開発と材料評価への応用
寺内正己
長岡技術科学大学SHARE機器交流会、2020/12/21、長岡.
2021-2023
- 角度分解EELSを用いた熱線遮蔽材料の誘電特性解析
佐藤庸平、町田佳輔、寺対正己、足立健治
日本顕微鏡学会、2021/6/15、つくば.
- SXESの基礎知識と使い方―何をどう見るか？―
寺内正己
第4回SXESスクール（オンライン）、2021/12/1-24.
- 顕微SXESの実用化とその材料研究への応用について
寺内正己
応用物理学会 光機能研究会、2022/2/25、オンライン.
- 「クライオ電子顕微鏡」産業界での利活用
寺内正己
KCみやぎセミナー、2022/11/24.
- SXESの基礎知識とその利用法―何がどう見えているかるか？―
寺内正己
第5回SXESスクール、2022/11/25.
- 軟X線顕微計測が世界を変える―放射光技術の商用化で開発加速を―
寺内正己
JAIMA未踏分析ウェビナー、2022/12/6
- “SXES“とは何か？～化学結合分析～
寺内正己
第6回SXESスクール Basic、2023/11/4、昭島
2024-2026
- SXESを用いた解析～大学での応用例～
寺内正己
第6回SXESスクール Advanced、2024/1/15、東京
- 分析電子顕微鏡を用いたホウ素・ホウ化物の電子状態解析（受賞講演）
寺内正己
日本ホウ素・ホウ化物研究会、2024/2/16、柏（東大サテライトキャンパス）
- 軟X線ホログラフィック不等間隔溝回折格子の開発と高分解能発光分光システムへの応用（受賞講演）
小池雅人、寺内正己、村野孝訓、大上裕紀、越谷翔悟、垣尾翼
日本分析化学会、2024/9/12、名古屋
- Crystal structure and chemical bonding studies using convergent-beam electron diffraction
B.Aryal, D.Morikawa, K.Tsuda, M.Terauchi, L.Bourgeois, and P.N.Nakashima
Materials Oceania, 2024/9/25, Thailand
- ホウ素関連物質合成へのSXES顕微技術の適用
寺内正己
第7回SXESスクール、2024/12/6、大阪（JEOL大阪支社）
- SEMを用いた材料の状態分析
寺内正己
日本顕微鏡学会 ソフトマテリアル分科会、2024/12/17、三島
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