電子の波動性に注目し，その干渉効果を利用した電子線ホログラフィーは，ナノスケールで電磁場を可視化できる最新の科学技術である．当研究部では， この電子線ホログラフィーを活用して，先端材料内外の電磁場を高精度で計測する研究を行っている．対物レンズに磁気シールドを導入する等，電子顕微鏡本体 の改造を行う一方，試料ホルダーにも複数の探針を導入し，ピエゾ駆動操作することにより電磁場制御を行うと共に，局所領域での伝導性評価も実施している． 汎用の電子顕微鏡法による構造・組成情報に加え，電磁場・伝導性を評価する多元的解析を展開している．
主な研究内容
- 電子線ホログラフィーによるナノスケール電磁場計測の高精度化
- 電磁場制御と伝導性評価のための電顕内探針操作技術の開発
- 電場解析による二次電池の電気的特性評価
- 先端ハード・ソフト磁性材料のナノスケール磁区構造解析
- 高温超伝導体，強相関電子系新物質の磁束イメージング
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