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小角X線散乱によるナノ粒子配列解析に関する論文が日本セラミックス協会誌に掲載されました

あいちシンクロトロン光センター 神谷和孝博士との共同研究の成果がJournal of the Ceramic Society of Japanに掲載されました。

 

Kazutaka Kamitani, Akira Miyano, Kakeru Ninomiya, Maiko Nishibori, “Ordering analysis of SiO2 particle-accumulated films by small-angle X-ray scattering”, Journal of the Ceramic Society of Japan, Vol. 131 No. 4 (2023) 112-115., doi:10.2109/jcersj2.22119

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