本研究室では、透過型電子顕微鏡（TEM）を基盤とした電子線分光技術を発展させて、ナノスケールにおける材料の電子状態・化学結合・光学特性・格子振動といった多様な物性の解明に取り組んでいます。とくに、運動量分解電子エネルギー損失分光法（qEELS）と角度分解軟X線発光分光法（AR-SXES）を中心とした「多次元電子線分光法」の構築と応用により、従来手法では捉えることが困難であった局所物性の直接観測を目指しています。