放射光学会第六回若手研究会「コヒーレントX線が拓く構造可視化の新しい世界」

研究会の概要

開催日時：2014年8月22(金)、23日(土)
開催場所：SPring-8キャンパス　SACLA実験棟2階大会議室

主催：日本放射光学会
共催：理化学研究所放射光科学総合研究センター、日本顕微鏡学会若手研究部会「様々な極微イメージング技術研究部会」

代表：高橋幸生（大阪大学大学院工学研究科）、苙口友隆（慶應義塾大学　理工学部）、星野大樹（理化学研究所放射光科学総合研究センター）

研究会の趣旨

近年、放射光施設における蓄積リングの低エミッタンス化やＸ線自由電子レーザー(XFEL)の登場などＸ線光源の技術的な進展により、Ｘ線のコヒーレントフラックスが増大しています。これに伴い、コヒーレント回折イメージング、光子相関分光、ホログラフィーなど、Ｘ線の1次コヒーレンス(可干渉性)を利用した計測が比較的容易に実施可能になってきました。コヒーレントＸ線を利用したこれらの手法は、従来のＸ線構造可視化技術では得られないユニークなナノメートル分解能の構造情報を提供してくれることから、次世代光源計画において、常に重要なテーマとして位置付けられ、バイオイメージング・構造物性研究への展開が大いに期待されています。コヒーレントＸ線利用研究には、先端的なＸ線光源技術が必要であることは言うまでもありませんが、計測・解析に必要とされる技術が日増しに高度になり、単一グループの研究で成果を挙げるのが難しくなりつつあります。また、電子線や可視光レーザーなどのプローブを用いたコヒーレンス技術も急速に進展しており、Ｘ線手法のみに目を向けていては、世界最先端の研究を行うことが容易でなくなりつつあります。このような現況を踏まえて、本研究会では、放射光、XFELに加えて、電子線、可視光レーザーなどの光源・プローブ形成技術、それを用いたコヒーレント回折・散乱計測技術、計算科学・光学理論に携わる若手研究者が一堂に会し、それぞれの専門の枠を超えた議論を行うことを目的とします。本研究会を通して、次世代光源に向けた新たなネットワークが構築され、コヒーレントＸ線によるナノ構造の可視化へ新境地が開拓されていくことを期待しています。

新着情報

2014年5月27日	ホームページを開設しました。
2014年6月1日	事前参加登録を開始しました(7/15締切⇒7/22まで延長)。
2014年7月23日	事前参加登録を締切ました。78名の方から参加登録がありました。
2014年8月23日	90名の方にご参加いただき、大盛況のうちに無事閉会いたしました。講演者の皆様、ご参加いただきました皆様に深く感謝申し上げます(写真)。