主な実験装置


広帯域SXES分光装置を搭載した汎用電子顕微鏡

・JEOL 2010
・熱電子放出型電子銃　LaB6
・加速電圧：　20-200kV
・最新式の軟X線発光分光装置（ver.6）を搭載
・付属装置：　汎用元素分析装置

精密構造解析用の分光型電子顕微鏡

・JEOL 2010FEF
・Schottky タイプ電子銃
・加速電圧：　60-200kV
・Ωフィルタを結像レンズ系に内臓
・付属装置：　高効率SDD元素分析装置

汎用型高エネルギー分解能EELS電子顕微鏡

・JEOL MIRAI
・モノクロメータ内臓 Schottky タイプ電子銃
・加速電圧：　60-200kV
・2段式 Wien filter のモノクロメータ搭載
・汎用型軟X線発光分光装置(ver.5)を搭載
・付属装置：　高効率SDD元素分析装置

走査プロープ機能付分析電子顕微鏡

・JEOL TKP
・W<111> 冷陰極フィールドエミッション電子銃
・加速電圧：　80-200kV
・照射レンズ系に収差補正装置を搭載
・高分解能タイプ軟X線発光分光装置（ver.4）を搭載
・Ωフィルタを結像レンズ系に内臓
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