平成12年度 表面機能計測分野（田中研） 活動状況

1. 研究論文、解説、著書 (Original Papers and Reviews)

  1. "高機能電子顕微鏡を用いて明らかにされた準結晶構造と 準単位胞モデル"
    田中通義、寺内正己、津田健治、斎藤晃、蔡安邦、阿部英司
    まてりあ、特集号 39 (2000) 645-653.
  2. "電子回折（透過法）、電子顕微鏡"
    田中通義
    日本電子顕微鏡学会誌 創立50周年記念特集号 35 (2000) 46-48.
  3. "電子顕微鏡・電子回折の拓く道"
    田中通義
    日本結晶学会誌 50周年記念号第3部 42 (2000) 264-268.
  4. "Distinction of Space Groups (I23 & I213) and (I222 & I212121) Using Coherent Convergent-Beam Electron Diffraction"
    K. Tsuda, K. Saitoh, M. Terauchi. M. Tanaka and P. Goodman
    Acta Cryst. A56(4) (2000) 359-369.
  5. "Space Group Determination of Monoclinic and Orthorhombic Al13Co4 Approximants by the Convergent-Beam Electron Diffraction Method"
    T. Yokosawa, K. Saitoh, M. Tanaka and A. P. Tsai
    J. PHys. Soc. Jpn. 69(6) (2000) 1568-1589.
  6. "Electron diffraction study of the phase transformation of α'-NaV2O5"
    K. Tsuda, S. Amamiya, M. Tanaka, Y. Noda, M. Isobe and Y. Ueda
    J. Phys. Soc. Jpn. 69(7) (2000) 1935-1938.
  7. "Space group determination of the room-temperature phase of α'-NaV2O5 using convergent-beam electron diffraction"
    K. Tsuda, S. Amamiya, M. Tanaka, Y. Noda, M. Isobe and Y. Ueda
    J. Phys. Soc. Jpn. 69(7) (2000) 1939-1941.
  8. "Production of zigzag-type BN Nanotubes and BN Cones by Thermal Annealing"
    M. Terauchi, M. Tanaka, K. Suzuki, A. Ogino and K. Kimura
    Chemical Physics letters 324(7) (2000) 359-364.
  9. "Inital state of SiC film growth on Si(111)7x7 and Si(100)2x1 surfaces using C60 as a precursor studied by STM and HRTEM"
    S. Suto, C.-W. Hu, F. Sato, M. Tanaka, Y. Kasukabe, A. Kasuya
    Thin Solid Films 369 (2000) 265-268.
  10. "ALCHEMI Study of an Al72Ni20Co8 Decagonal Quasicrystal"
    K. Saitoh, M. Tanaka, A.-P. Tsai and C. Rossouw
    J. Phys. Soc. Jpn 69(8) (2000) 2379-2382.
  11. "Analysis of crystal structure and phase transition of LaCrO3 by various diffraction measurements"
    T. Hashimoto, N. Tsuzuki, A. KIshi, K. Takagi, K. Tsuda, M. Tanaka, K. Oikawa, T. Kamiyama, K. Yoshida, H. Tagawa, M. Dokiya
    Solid State Ionics 132(3,4) (2000) 183-190.
  12. "Crystal structure analysis of Material for Interconnect of Solid Oxide Fuel Cells - Determination of Space Group of LaCrO3 by Convergent-Beam Electron Diffraction"
    T. Hashimoto, K. Takagi, K. Tsuda, M. Tanaka, K. Yoshida, T. Tagawa and M. Dokiya
    J. Electrochem. Soc. 147(12), (2000) 4408-4410.
  13. "Strain-induced symmetry breakdown in HOLZ lines form L12 Titanium Tri-Aluminides"
    C. J. Rossouw, K. Tsuda, C. T. Forwood, M. A. Gibson and M. Tanaka
    J. Electron Microsc. 49(5) (2000) 589-598.
  14. "Structure of the Boron Nitride Films Obtained by RPECVD from Borazine"
    T. P. Smirnova, M. Terauchi, F. Sato, K. Shibata and M. Tanaka
    Chem. for Sustainable Development 8 (2000) 63-67.
  15. "Structural studies on decagonal quasicrystals using the HAADF-STEM and CBED method"
    K. Saitoh, K. Tsuda, M. Tanaka and A. P. Tsai
    Z. Kristallogr. 215 (2000) 618-626.

2. 研究活動報告、国際会議録など (Progress-, Activity-, and Conference-Report)

  1. "An 0.2eV energy resolution analytical electron microscope"
    M. Tanaka, M. Terauchi, K. Tsuda, K. Saitoh, T. Honda, K. Tsuno, M. Naruse, T. Tomita and T. Kaneyama
    Proc. the 2nd Conf. of the Int. Union of Microbeam Analysis Soc., Hawaii (2000) 217.
  2. "High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy based on electron microscopy "
    M. Terauchi and M. Tanaka
    Proc. the 2nd Conf. of the Int. Union of Microbeam Analysis Soc., Hawaii (2000) 211.
  3. "Advances in symmetry analysis by convergent-beam electron diffraction"
    M. Terauchi and M. Tanaka
    Proc. the 2nd Conf. of the Int. Union of Microbeam Analysis Soc., Hawaii (2000) 201.
  4. "Symmetry breakdown in HOLZ lines from the L12 phase of Al3Ti "
    C. J. Rossouw and K. Tsuda
    Proc. the 2nd Conf. of the Int. Union of Microbeam Analysis Soc., Hawaii (2000) 199.
  5. "Nanometer crystal structure analysis by EF-CBED and EF-Microscopy"
    K. Tsuda and M. Tanaka
    Microscopy and Microanalysis, vol. 6, supplement 2 (Proc. M&M2000, Philadelphia) (2000) 152.

3. 技術研究報告 (Technical Research Reports)

4. 口頭発表 (Oral Presentation)

  1. 電子回折法
    田中通義
    日本電子顕微鏡学会 第10回電子顕微鏡大学（講師）、2000年4月、東京
  2. 高分解能電子エネルギー損失分光電子顕微鏡の開発と応用 (電子顕微鏡学会賞受賞講演)
    寺内正己
    日本電子顕微鏡学会 第56回学術講演会、2000年5月、東京
  3. 高分解能EELSによるBNコーンの電子状態の研究
    寺内正己、田中通義、鈴木啓悟、荻野あつし、木村 薫
    日本電子顕微鏡学会 第56回学術講演会、2000年5月、東京
  4. 高分解能EELSによるアルカリ金属ドープC60ポリマーの電子状態の研究
    寺内正己、山口哲弘、田中通義、岩佐義宏、三谷洋興、八木健彦
    日本電子顕微鏡学会 第56回学術講演会、2000年5月、東京
  5. 収束電子回折法によるalpha'-NaV2O5の構造の研究
    津田健治、雨宮修一、田中通義、野田幸男、磯部正彦、上田寛
    日本電子顕微鏡学会 第56回学術講演会、2000年5月、東京
  6. 収束電子回折法によるLaCrO3の結晶構造解析
    津田健治、高木一成、田中通義、橋本拓也
    日本電子顕微鏡学会 第56回学術講演会、2000年5月、東京
  7. 収束電子回折法単結晶Al13Co4近似結晶の構造解析
    横澤忠洋、斎藤 晃、津田健治、田中通義、蔡安邦
    第8回準結晶研究会、2000年5月、名古屋
  8. Electron microscope studies of quasicrystals (invited)
    K.Saitoh, M.Tanaka, A.P.Tsai and C.J.Rossouw
    Aperiodic 2000, July 2000, Nijmegen(The Netherlands)
  9. High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy based on electron microscopy (invited)
    M.Terauchi and M.Tanaka
    2nd meeting of International Union of Microbeam Analysis Societies, July 2000, Hawaii
  10. An 0.2eV energy resolution analytical electron microscope
    M.Tanaka, M.Terauchi, K.Tsuda, K.Saitoh, T.Honda, K.Tsuno, M.Naruse, T.Tomita and T.Kaneyama
    2nd meeting of International Union of Microbeam Analysis Societies, July 2000, Hawaii
  11. Advences in symmetry analysis by convergent-beam electron diffraction (invited)
    M.Terauchi and M.Tanaka 2nd meeting of International Union of Microbeam Analysis Societies, July 2000, Hawaii
  12. Crystal Structure Refinement by Conbvergent-Beam Electron Diffraction (invited)
    M.Tanaka and K.Tsuda
    The International Union of Materials Research Societies - 6th International Conference in Asia, July 2000, Hong Kong
  13. Nanometer Crystal Structure Analysis by EF-CBED and EF-Microscopy (invited)
    K.Tsuda and M.Tanaka
    Microscopy and Microanalysis 2000, August 2000, Philadelphia.
  14. Synthesis and Properties of Boron Carbonitride and Boron Nitride films
    M.L.Kosinova, N.I.Fainer, E.A.Maximovski, Yu.M.Rumyantsev, M.Terauchi, K.Shibata, F.Satoh, M.Tanaka and F.A.Kuznetsov
    The 1st Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology, August 2000, Sendai
  15. Films of Individual and Mixed Sulphides of Cadmium, Copper and Zinc
    N.I.Fainer, Yu.M.Rumyantsev, M.L.Kosinova, M.Terauchi, K.Shibata, F.Satoh, M.Tanaka and F.A.Kuznetsov
    The 1st Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology, August 2000, Sendai
  16. Synthesis and Properties of Silicon Carbonitride films
    N.I.Fainer, M.L.Kosinova, Yu.M.Rumyantsev, M.Terauchi, K.Shibata, F.Satoh, M.Tanaka and F.A.Kuznetsov
    The 1st Asian Conference on Crystal Growth and Crystal Technology, August 2000, Sendai
  17. 収束電子回折法によるCd-Mg-Ybアイコサヘドラル準結晶の構造の研究
    齋藤 晃、横澤忠洋、田中通義、蔡安邦
    日本物理学会、2000年9月、新潟
  18. Al72Ni20Co8デカゴナル準結晶のクラスター構造変化の高温HREMその場観察
    横澤忠洋、齋藤 晃、田中通義、蔡安邦
    日本物理学会、2000年9月、新潟
  19. 電子顕微鏡用軟X線分光装置の開発
    山本秀人、寺内正己、田中通義
    日本物理学会、2000年9月、新潟
  20. 電子回折における非弾性散乱強度のシミュレーションIV
    応本和也、津田健治、田中通義
    日本物理学会、2000年9月、新潟
  21. 蛍石型Bi2O3-Ta2O5系における格子変調とイオン伝導
    三井田陸郎、斎藤 隆、田中通義
    日本物理学会、2000年9月、新潟
  22. 高機能電子顕微鏡による準結晶構造の研究（招待講演）
    齋藤 晃、横澤忠洋、津田健治、田中通義、蔡安邦
    日本物理学会、2000年9月、新潟
  23. シリコンにおけるアモルファス化の素過程
    山崎順、竹田清治、津田健治
    日本物理学会、2000年9月、新潟
  24. 高分解能EELSによるBNコーンの電子状態の研究II
    寺内正己、川名正直、田中通義、鈴木啓悟、荻野あつし、木村 薫
    日本物理学会、2000年9月、新潟
  25. Crystal structure refinement by CBED (invited)
    M.Tanaka and K.Tsuda
    Joint meeting 2000 of JEM-users, September 2000, Jena(Germany)
  26. An new 0.2eV energy resolutio JEOL electron microscope (invited)
    M.Tanaka, M.Terauchi, K.Tsuda, K.Saitoh, T.Honda, K.Tsuno, M.Naruse, T.Tomita and T.Kaneyama
    Joint meeting 2000 of JEM-users, September 2000, Jena(Germany)
  27. Point-group determination (invited)
    M.Tanaka
    1st German-Japanese School for Convergent Beam Electron Diffraction, September 2000, Jena(Germany)
  28. Space-group determination (invited)
    M.Tanaka
    1st German-Japanese School for Convergent Beam Electron Diffraction, September 2000, Jena(Germany)
  29. Defect identification (invited)
    M.Tanaka
    1st German-Japanese School for Convergent Beam Electron Diffraction, September 2000, Jena(Germany)
  30. Structure refinement (invited)
    K.Tsuda
    1st German-Japanese School for Convergent Beam Electron Diffraction, September 2000, Jena(Germany)
  31. Symmetry determination by CBED (invited)
    K.Saitoh
    1st German-Japanese School for Convergent Beam Electron Diffraction, September 2000, Jena(Germany)
  32. Crystal structure refinement by CBED (invited)
    M.Tanaka and K.Tsuda
    Joint meeting 2000 of JEM-users from Germany, Switzerland and Benelux, September 2000, Jena(Germany)
  33. An 0.2eV energy resolution JEOL electron microscope (invited)
    M.Tanaka, M.Terauchi, K.Tsuda, K.Saitoh, T.Honda, K.Tsuno, M.Naruse, T.Tomita and T.Kaneyama
    Joint meeting 2000 of JEM-users from Germany, Switzerland and Benelux, September 2000, Jena(Germany)
  34. alpha菱面体ボロンへのLiドーピングと新超伝導体の探索
    小栗淳司、木村 薫、寺内正己、田中通義
    特定領域「フラレン・ナノチューブネットワーク」研究会、2000年10月、金沢
  35. BNコーンの電子状態の研究
    寺内正己、川名正直、田中通義、鈴木啓悟、荻野あつし、木村 薫
    特定領域「フラレン・ナノチューブネットワーク」研究会、2000年10月、金沢
  36. Structural Studies of Quasicrystals using Z-contrast Method (invited)
    K.Saitoh, M.Tanaka and A.P.Tsai
    8th conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, November 2000, Matsue(Japan)
  37. High energy-resolution EELS and X-ray spectroscopy (invited)
    M.Terauchi and M.Tanaka
    8th conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, November 2000, Matsue(Japan)
  38. 収束電子回折法による結晶構造解析（招待講演）
    津田健治
    日本結晶学会創設50周年記念シンポジウム、2000年11月、仙台
  39. TEM法による構造解析の基礎（招待講演）
    寺内正己
    日本電子顕微鏡学会関西支部 電子顕微鏡技術研究会、2000年12月、大阪
  40. High Energy-Resolution EELS Study of the Electronic Structure of Polymerized C$_{60$ Single Crystals
    M.Terauchi, S.Nishimura, M.Tanaka, T.Mitani, Y.Iwasa and T.Yagi
    International Symposium on Nanonetwork Materials, January 2001, Kamakura(Japan)
  41. Superconductivity in Li-doped alpha-rhombohedral Boron
    A.Oguri, K.Kimura, M.Terauchi and M.Tanaka
    International Symposium on Nanonetwork Materials, January 2001, Kamakura(Japan)
  42. High Energy-Resolution EELS Study of the Electronic Structure of Boron Nitride Cones
    M.Terauchi, M.Kawana, M.Tanaka, K.Suzuki, A.Ogino and K.Kimura
    International Symposium on Nanonetwork Materials, January 2001, Kamakura(Japan)
  43. Location of Ge implanted Hexagonal SiC
    U.Kaiser, K.Saitoh, K.Tsuda and M.Tanaka
    Oxford Microscopy on Semiconductor Materials conference, March 2001, Oxford(UK)
  44. 収束電子回折法およびHAADF-STEM法によるAl73Ni22Co5デカゴナル準結晶の構造の研究
    齋藤 晃、田中通義、蔡安邦
    日本物理学会、2001年3月、中央大
  45. HAADF-STEM法によるAl-Co系高次近似結晶の構造の研究
    横澤忠洋、齋藤 晃、田中通義、蔡安邦
    日本物理学会、2001年3月、中央大
  46. 収束電子回折法によるLaMnO3-deltaの空間群決定
    津田健治、小形曜一郎、田中通義、斎藤英治、木村 剛、十倉好紀
    日本物理学会、2001年3月、中央大
  47. 電子回折における非弾性散乱強度のシミュレーションV
    応本和也、津田健治、田中通義
    日本物理学会、2001年3月、中央大
  48. alpha-菱面体晶ボロンへのLiドープと新超伝導体の探索
    小栗淳司、木村 薫、寺内正己、田中通義
    日本物理学会、2001年3月、中央大
  49. 高分解能EELSによるLiドープalpha-ボロンの電子状態の研究
    寺内正己、田中通義、小栗淳司、木村 薫、藤原明比古
    日本物理学会、2001年3月、中央大
  50. 電子顕微鏡用軟X線分光装置の開発とボロン同素体への応用
    山本秀人、寺内正己、田中通義
    日本物理学会、2001年3月、中央大
  51. 正20面体クラスター固体における（擬）ギャップの起源と超伝導体、熱電材料としての可能性
    木村薫、桐原和大、小栗淳司、永田智啓、藤森正成、中山高博、金泓基、高田昌樹、坂田誠、寺内正己、田中通義
    日本金属学会、2001年3月、千葉