1. Original Papers and Reviews
1a. Original Papers
- Masami Terauchi, Masato Koike, Kurio Fukushima, Atsushi Kimura
Developments of wavelength-dispersive soft-X-ray emission spectrometers for transmission electron microscopes - an introduction of valence-electron spectroscopy for transmission electron microscopy –
Journal of Electron Microscopy,59,251-261(2010.8)
- K. Tsuda, D. Morikawa, Y. Watanabe, S. Ohtani, T. Arima
Direct observation of orbital ordering in the spinel oxide FeCr2O4 through electrostatic potential using convergent-beam electron diffraction
Physical Review B,81,180102-1-180102-4(2010)
1b. Reviews
- 石野雅彦, 佐藤二美, 寺内正己, 佐野一雄, 笹井一雄, 小池雅人
Co/SiO2多層膜回折格子の構造と光学特性評価
JAEA-Conf,2009(7),65-68(2010.3)
- 寺内正己, 小池雅人
ナノスケール軟X線発光分光装置の角度分解SXES計測への適用
JAEA-Conf,2010(2),71-74(2010.6)
- 津田健治
収束電子回折法による静電ポテンシャル分布解析
日本結晶学会誌,52(3),184-189(2010.6)
- 石野雅彦, 小池雅人, 佐藤二美, 寺内正己, 佐野一雄, 笹井一雄 (M.Ishino, M.Koike, F.Satou, M.Terauchi, K.Sano, H.Sasai)
軟X線多層膜回折格子の光学特性と構造評価 (Evaluation of optical and structural properties of Co based soft x-ray multilayer gratings)
立命館大学SRセンター紀要 (Memoirs of the SR center, Ritsumeikan University),12,75-85(2010.8)
1c. Books and articles
-
1d. Awards
- 津田健治
平成22年度日本結晶学会学会賞学術賞 (Research Award of the Crystallographic Society of Japan (2010))
分光収束電子回折法による精密結晶構造解析法の開発
日本結晶学会,(2010.12.4)
2. Conferences
2a. International conferences
招待- Kenji Tsuda
Analysis of crystal structure and electrostatic potential using convergent-beam electron diffraction
The 27th Annual Conference of The Microscopy Society of Thailand,Thailand,Koh Samui,(2010.1.20-2010.1.22)
- M.Terauchi
Valence electron spectroscopy by SXES-TEM
6th International Workshop on Nano-Scale Spectroscopy and Nanotechnology,Japan,,(2010.10.25)
一般- S.Koshiya, M.Terauchi, S.Ohhashi, A.P.Tsai
EELS and SXES studies of electronic structures of Zn-Mg-Zr alloys
11th International Conference on Quasicrystals,Japan,,(2010.6.13)
- K. Tsuda, F. Roeder, A. Lubk, D. Wolf, D. Geiger, H. Lichte
Electrostatic potential analysis of ferroelectrics using convergent-beam electron diffraction and electron holography
2nd International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC2),Japan,Nagoya,(2010.6.24-2010.6.26)
- M.Terauchi, H.Takahashi, N.Handa, T.Murano, M.Koike, T.Kawachi, T.Imazono, M.Koeda, T.Nagano, H.Sasai, Y.Oue, Z.Yonezawa, S.Kuramoto
Li K-emission measurements using a newly developed SXES-TEM instruments
Microscopy & Microanalysis,USA,,(2010.8.2)
- H.Takahashi, N.Handa, T.Murano, M.Terauchi, M.Koike, T.Kawachi, T.Imazono, M.Koeda, T.Nagano, H.Sasai, Y.Oue, Z.Yonezawa, S.Kuramoto
Soft X-ray Emission Spectrometer with High-energy Resolution for Electron Probe Microanalysis
Microscopy & Microanalysis,USA,,(2010.8.2)
- Kenji Tsuda
Electrostatic potential analysis of ferroelectric LiNbO3 using convergent-beam electron diffraction
17th International Microscopy Congress (IMC17),Brazil,Rio de Janeiro,(2010.9.19-2010.9.24)
- Y.Sato, M.Terauchi, K.Adachi
High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of nanoparticle of near infrared scattering materials
17th International Conference on Microscopy,Brazil,,(2010.9.21)
- Y.Sato, M.Terauchi, Y.Saito
High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of single-walled carbon nanotubes
17th International Conference on Microscopy,Brazil,,(2010.9.21)
- Daisuke Morikawa, Kenji Tsuda, Shigeki Yamada, Takahisa Arima
Structure analysis of charge-orbital ordered phases in A-site ordered perovskites SmBaMn2O6 and NdBaMn2O6 using CBED
The 10th Conference of the Asian Crystallographic Association (AsCA10),Korea,Busan,(2010.10.31-2010.11.3)
2b. Domestic conferences
招待- 津田健治
収束電子回折法による静電ポテンシャル分布解析
第5回固体イオニクスセミナー,岩沼市,(2010.3.5-2010.3.7)
- 寺内正己, 佐藤庸平
TEM-EELS/SXESによるナノスケール電子状態解析
応用物理学会 春季講演会シンポジウム「ナノスケール分光法による顕微評価・解析技術の最前線」,神奈川,,(2010.3.17)
- 佐藤庸平, 寺内正己, 足立健治
高分解能EELSによるナノスケールマテリアルの光学物性の研究
日本顕微鏡学会第66回学術講演会,名古屋,(2010.5.23-2010.5.26)
- 高橋秀之, 飯田信雄, 村野孝訓, 寺内正己, 小池雅人, 河内哲哉, 今園孝志, 小枝勝, 笹井浩行, 倉本智史
EPMA/TEM用軟X線発光分析システムの開発
日本顕微鏡学会 第54回シンポジウム,金沢,,(2010.11.13)
- 津田健治
電子線による局所構造解析
平成22年度日本結晶学会年会 60周年記念シンポジウム,(2010.12.3-2010.12.5)
- 津田健治
分光収束電子回折法による精密結晶構造解析法の開発
平成22年度日本結晶学会年会,(2010.12.3-2010.12.5)
一般- 寺内正己, 土谷公平, N.S.Kini, 山中庄司
TEM-SXESによるC60ポリマーの価電子帯の研究
特定領域研究「配列ナノ空間を利用した新物質科学」領域会議,東京,,(2010.1.7)
- 寺内正己, 佐藤庸平
TEM-SXESによる発光異方性計測による電子状態の研究
特定領域研究「配列ナノ空間を利用した新物質科学」領域会議,東京,,(2010.1.7)
- 寺内正己, 佐藤庸平
TEMを用いた角度分解SXES計測による異方的電子状態の研究
物性研短期研究会「顕微分光とナノサイエンスの発展」,千葉,,(2010.2.22)
- 佐藤庸平, 寺内正己, 斉藤弥八
高エネルギー分解能EELS測定によるCNT励起子効果の研究
日本物理学会,岡山,,(2010.3.20)
- 津田健治,中嶋誠二,朴正敏,奥山雅則
収束電子回折法によるBiFeO3強誘電薄膜の歪み分布解析
日本物理学会第65回年次大会,日本,岡山,(2010.3.20-2010.3.23)
- 森川大輔,津田健治,山田重樹,有馬孝尚
収束電子回折法によるNdBaMn2O6室温相および低温相の結晶構造解析
日本物理学会第65回年次大会,日本,岡山,(2010.3.20-2010.3.23)
- 永地健紀, 兵藤宏, 曽我公平, 佐藤庸平, 寺内正己, 木村薫
Liドープα菱面体晶ボロンの超伝導
日本物理学会,岡山,,(2010.3.21)
- 寺内正己, 佐藤庸平
角度分解軟X線発光分光による異方的電子状態の研究II
日本物理学会,岡山,,(2010.3.21)
- 土谷公平, 佐藤庸平, 寺内正己, 斉藤広樹, 武田雅敏
高分解能EELSによるMgB4の電子構造の研究II
日本物理学会,岡山,,(2010.3.21)
- 越谷翔悟, 寺内正己, 大橋諭, 蔡安邦
高分解能EELSを用いたZn-Mg-Zr合金の電子構造の研究
日本物理学会,岡山,,(2010.3.21)
- 寺内正己, 佐藤庸平
TEMを用いた角度分解SXES計測による異方的電子状態の解析
日本顕微鏡学会,名古屋,,(2010.4.24)
- 高橋秀之, 寺内正己, 小池雅人, 河内哲哉, 今園孝志, 小枝勝, 長野哲也, 笹井浩行, 大上裕紀, 米澤善央, 倉本智史, 飯田信雄, 村野孝訓
電子顕微鏡用高分解能超軟X線分光器の開発
日本顕微鏡学会,名古屋,,(2010.4.24)
- 寺内正己, 高橋秀之, 飯田信雄, 村野孝訓, 小池雅人, 河内哲哉, 今園孝志, 小枝勝, 長野哲也, 笹井浩行, 大上裕紀, 米澤善央, 倉本智史
汎用SXES開発のためのTEM用広帯域SXESの試作
日本顕微鏡学会,名古屋,,(2010.4.24)
- 寺内正己
電子顕微鏡を用いた物性・機能解析技術の進展
特定領域研究「配列ナノ空間を利用した新物質科学」領域会議,名古屋,,(2010.5.28)
- 高橋秀之, 飯田信雄, 村野孝訓, 寺内正己, 小池雅人, 河内哲哉, 今園孝志, 小枝勝, 笹井浩行, 倉本智史
電子顕微鏡(EPMA/TEM)用超軟X線分光器の開発と応用
日本顕微鏡学会 分析電子顕微鏡討論会,千葉,,(2010.9.1)
- 佐野力也,森川大輔,津田健治,符徳勝,伊藤満
収束電子回折法によるAgNbO3の空間群決定
日本物理学会,堺市,(2010.9.23-2010.9.26)
- 森川大輔,津田健治,山田重樹,有馬孝尚
収束電子回折法によるSmBaMn<SUB>2</SUB>O<SUB>6</SUB>電荷秩序相の結晶構造解析
日本物理学会,堺市,(2010.9.23-2010.9.26)
- 越谷翔悟, 寺内正己, 大橋諭, 蔡安邦
EELSおよびSXESによるZn-Mg-Zr合金の電子構造の研究
日本物理学会,大阪,,(2010.9.24)
- 寺内正己, 佐藤庸平
角度分解軟X線発光分光による異方的電子状態の研究III
日本物理学会,大阪,,(2010.9.24)
- 寺内正己, 高橋秀之, 飯田信雄, 村野孝訓, 小池雅人, 河内哲哉, 今園孝志, 小枝勝, 長野哲也, 笹井浩行, 大上裕紀, 米澤善央, 倉本智史
広帯域SXES装置の試作開発
日本物理学会,大阪,,(2010.9.24)
- 船尾拓也, 佐藤庸平, 寺内正己, 足立健治
高分解能EELSによるCsxWO3の電子構造の研究
日本物理学会,大阪,,(2010.9.24)
- 寺内正己, 佐藤庸平
電子顕微鏡を用いた局所領域の物性解析
第4回物性科学領域横断研究会,東京,,(2010.11.15)
- 森川大輔,津田健治,山田重樹,有馬孝尚
収束電子回折法によるAサイト秩序型ペロブスカイト型酸化物SmBaMn2O6電荷軌道秩序相の空間群決定
多元物質科学研究所研究発表会,(2010.12.1)
- 森川大輔, 津田健治, 山田重樹, 有馬孝尚
収束電子回折法によるAサイト秩序型ペロブスカイト型酸化物SmBaMn2O6電荷軌道秩序相の結晶構造解析
平成22年度日本結晶学会年会,(2010.12.3-2010.12.5)
- 津田健治
収束電子回折法によるペロブスカイト型酸化物材料の構造解析
私立大学戦略的研究基盤形成支援事業 「構造制御および電子状態制御に基づく新物質の開発」2010年度研究発表会,(2010.12.25)
2c. Conference proceedings
- K. Tsuda, F. Roeder, A. Lubk, D. Wolf, D. Geiger, H. Lichte
Electrostatic potential analysis of ferroelectrics using convergent-beam electron diffraction and electron holography
AMTC letters,2,96-97,Japan,Nagoya,Japan Fine Ceramics Center(2010.6.24-2010.6.26)
- S.Koshiya, M.Terauchi, S.Ohhashi, A.P.Tsai
EELS and SXES studies of electronic structures of Zn-Mg-Zr alloys
Abstract of 11th International Conference on Quasicrystals,P04-09,Japan,(2010.6.15)
- Y.Sato, M.Terauchi, K.Adachi
High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of nanoparticle of near infrared scattering materials
Abstract of 17th International Conference on Microscopy,I5-5,Brazil,(2010.9.17)
- Y.Sato, M.Terauchi, Y.Saito
High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of single-walled carbon nanotubes
Abstract of 17th International Conference on Microscopy,M2-34,Brazil,(2010.9.17)
- M.Terauchi
Valence electron spectroscopy by SXES-TEM
Abstract of 6th International Workshop on Nano-Scale Spectroscopy and Nanotechnology,I-7,Japan,(2010.10.25)
- F. Roeder, D. Wolf, A. Lubk, M. Linck, K. Vogel, A. Lenk, K. Tsuda, H. Lichte
Mapping intrinsic electric fields through off-axis electron holography: prospects and problems
Microsc. Microanal.,16,582-583,USA,Portland,Cambridge Univ. Press(2010.8.1-2010.8.5)
- M.Terauchi, H.Takahashi, N.Handa, T.Murano, M.Koike, T.Kawachi, T.Imazono, M.Koeda, T.Nagano, H.Sasai, Y.Oue, Z.Yonezawa, S.Kuramoto
Li K-emission measurements using a newly developed SXES-TEM instruments
Microscopy & Microanalysis,16,1308-1309,USA,(2010.8.2)
- H.Takahashi, N.Handa, T.Murano, M.Terauchi, M.Koike, T.Kawachi, T.Imazono, M.Koeda, T.Nagano, H.Sasai, Y.Oue, Z.Yonezawa, S.Kuramoto
A Soft X-ray Emission Spectrometer with High-energy Resolution for Electron Probe Microanalysis
Microscopy & Microanalysis,16,34-35,USA,(2010.8.2)
- Kenji Tsuda
Electrostatic potential analysis of ferroelectric LiNbO3 using convergent-beam electron diffraction
Proc. of 17th International Microscopy Congress (IMC17),Brazil,Rio de Janeiro,Brazilian Society of Microscopy and Microanalysis(2010.9.19-2010.9.25)
- R. Schierholz1, K. Tsuda, H.Fuess
Charge density of PbTiO3 reconstructed from refined low order structure factors using CBED-data
Proc. of 17th International Microscopy Congress (IMC17),Brazil,Rio de Janeiro,Brazilian Society of Microscopy and Microanalysis(2010.9.19-2010.9.25)