2005研究活動

Back

1. Original Papers and Reviews

1a. Original Papers

  1. High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of the electronic structure of C60 polymer crystals(invited paper)
    M. Terauchi, S. Nishimura, Y. Iwasa
    Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena,143(2-3),169-174(2005)
  2. X-ray and electron diffraction study of a precipitation phase in Nd1.85Ce0.15CuO4+y single crystal
    Hiroyuki Kimura, Yukio Noda, Futami Sato, Kenji Tsuda, Kenji Kurahashi, Tetsushi Uefuji, Masaki Fujita, Kazuyoshi Yamada
    Jounal of the Physical Society of Japan,74(8)2282-2286(2005)
  3. High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of electronic structures of barium titanate nanocrystals
    K.Suzuki, M.Terauchi, Y.Uemichi , K.Kijima
    Jap. J. Appl. Phys,40(10)7593-7597 (2005)

1b. Reviews

  1. TEM-XES法による電子状態解析
    寺内正己
    日本結晶学会誌, 47(1), 79-82(2005)
  2. 収束電子回折法による結晶構造・電子密度分布解析
    津田健治
    日本結晶学会誌, 47(1), 50-54(2005)
  3. 収束電子回折法による電子密度分布の可視化
    津田健治
    顕微鏡, 40(1), 55-58(2005)
  4. 透過型電子顕微鏡用軟X線広波長領域平面結像型分光器の光学設計
    小池雅人, 寺内正己
    JAERI-Conf, 2005-004, 235-238(2005)
  5. 高エネルギー分解能ナノスケール軟X線分光系の開発と応用
    寺内正己, 小池雅人, 石野雅彦
    JAERI-Conf, 2005-004 ,74-77(2005)
  6. 電子顕微鏡を用いた物性解析技術開発の最新動向
    寺内正己
    セラミックス, 40(11), 918-922(2005)

1c. Awards

  1. Macres Award for Best Instrumentation Paper
    A High Energy-resolution Wavelength-dispersive Soft-X-ray Spectrometer for a Transmission Electron Microscope to Investigate Valence Electrons
    Microbeam Analysis Society,May(2005)

2. Conferences

2a. International conferences

  1. Soft-X-ray emission spectroscopy based on TEM (invited)
    M. Terauchi
    EDGE2005 International EELS workshop,Austria,Grundlsee, (2005,5.1-5)
  2. Performance of a new Monochromator for a 200 kV Analytical Electron Microscope
    M. Mukai, T. Kanayama, T. Tomota, K. Tsuno, M. Terauchi, K. Tsuda, M. Naruse, T. Honda, M. Tanaka
    EDGE2005 International EELS workshop,Austria,Grundlsee, (2005,5.1-5)
  3. Development of wavelength-dispersive X-ray spectrometer for a conventional analytical transmission electron microscope M. Terauchi, M. Koike, K. Fukushima, J. Kimura
    EDGE2005 International EELS workshop,Austria,Grundlsee, (2005,5.1-5)
  4. High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of the electronic structure of two-wall carbon nanotubes
    Y. Sato, M. Tereauchi, Y. Saito and R. Saito
    EDGE2005 International EELS workshop,Austria,Grundlsee, (2005,5.1-5)
  5. Structural and charge-density studies of transition-metal oxides using convergent-beam electron diffraction (invited)
    K. Tsuda
    the XX Congress of the International Union of Crystallography, Florence, Italy (2005,8.23-31)

2b. Domestic conferences

  1. 軟X線広波長領域平面結像型分光器及び回折格子設計と評価
    小池雅人,寺内正己
    軟X線光学素子の生成と評価の現状と将来展望（IV）研究会,京都,(2005.2)
  2. TEM用WDSの開発と価電子状態分析（invited)
    寺内正己
    日本顕微鏡学会第29回関東支部講演会,東京,(2005.3)
  3. Mgドープα菱面体晶ボロンの作製と評価
    兵藤宏, 荒明聡, 曽我公平, 佐藤庸平, 寺内正己, 木村薫
    日本物理学会,東京,(2005.3)
  4. High-resolution electron spectroscopy - EELS/XES
    寺内正己
    日本物理学会, 東京（2005,3)
  5. 収束電子回折法によるSrTiO(18)_3_低温強誘電相の空間群決定
    津田健治，三ッ石創，野田幸男，京免徹，伊藤満
    日本物理学会, 東京（2005,3)
  6. ゼオライトMCM-41中マンガン酸化物の構造と磁性
    田村秀和、吉良弘、安藤悠也、高橋良、小野寺貢、村上洋一, 山崎誠志, 津田健治, 大山研二, 出口博之
    日本物理学会, 東京（2005,3)
  7. Si中Asドープ領域から得た収束電子回折図形の定量解析III
    三ッ石創，津田健治，寺内正己，川村和郎
    日本物理学会, 東京（2005,3)
  8. TEM-EELSによる有機分子内包単層カーボンナノチューブの電子構造の研究
    佐藤庸平, 寺内正己, 岩佐義宏
    日本物理学会, 東京（2005,3)
  9. TEM-EELSによるAl基準結晶・近似結晶の電子構造の研究(2)
    上道雄介, 寺内正己, 蔡安邦, 竹内恒博, 水谷宇一郎
    日本物理学会, 東京（2005,3)
  10. 金属学の触媒への応用：金属間化合物と非固溶系合金の場合
    蔡安邦, 亀岡聡, 寺内正己, 石井靖
    日本金属学会,神奈川,(2005.3)
  11. モノクロＥＥＬＳによる高分解能電子状態解析 (invited)
    寺内正己, 佐藤庸平
    日本顕微鏡学会, つくば,(2005,6)
  12. ＴＥＭ用高分解能ＷＤＳ装置を用いた電子状態解析
    寺内正己, 小池雅人
    日本顕微鏡学会, つくば,(2005,6)
  13. 収束回折法によるSi on Sapphireの局所格子定数測定
    赤荻隆之, 津田健治, 寺内正己, 田中通義
    日本顕微鏡学会, つくば,(2005,6)
  14. AsドープSiの収束電子回折図形の統計的動力学理論による解析
    津田健治，三ッ石創，寺内正己，川村和郎
    日本顕微鏡学会, つくば,(2005,6)
  15. 不純物注入Siから得た収束電子回折図形の定量解析
    三ッ石創，津田健治，寺内正己，川村和郎
    日本顕微鏡学会, つくば,(2005,6)
  16. ボロンクラスター物質群の電子線分光法による物性研究 (invited)
    寺内正己
    応用物理学会, 徳島, (2005,9)
  17. 収束電子回折法によるSrTiO(18)_3_低温強誘電相の空間群決定II
    津田健治，三ッ石創，野田幸男，京免徹，伊藤満
    日本物理学会, 京都, (2005,9)
  18. 収束電子回折法によるLa_2-2x_Sr_1+2x_Mn_2_O_7_(x=0.525)の結晶構造の研究
    小形曜一郎，津田健治，田中通義，村上洋一，廣田和馬
    日本物理学会, 京都, (2005,9)
  19. 不純物注入Siから得た収束電子回折図形の定量解析
    三ッ石創，津田健治，寺内正己，川村和郎
    日本物理学会, 京都, (2005,9)
  20. TEM-EELSによる有機分子内包単層カーボンナノチューブの電子構造の研究II
    佐藤庸平, 寺内正己, 竹延大志、岩佐義宏
    日本物理学会, 京都, (2005,9)
  21. TEM-EELSによる2層カーボンナノチューブの電子構造の研究
    佐藤庸平, 寺内正己, 斎藤弥八, 斎藤理一郎
    日本物理学会, 京都, (2005,9)
  22. 電子顕微鏡用軟X線分光器の開発VI
    寺内正己，小池雅人
    日本物理学会, 京都, (2005,9)
  23. TEM-XESによるボロン正20面体クラスター固体の電子構造の研究
    寺内正己, 木村薫
    日本物理学会, 京都, (2005,9)
  24. シリコン・ナノワイヤーの価電子励起過程のTEM-EELS分析
    吉川純, 竹田清治, 佐藤庸平, 寺内正己
    日本物理学会, 京都, (2005,9)
  25. 電子回折により結晶構造・電子密度分布解析現状と展望(invited)
    津田健治
    日本顕微鏡学会第50回シンポジウム, 福岡, (2005,11)
  26. TEM-WDSによる材料研究の可能性(invited)
    寺内正己
    日本顕微鏡学会第50回シンポジウム, 福岡, (2005,11)
  27. 局所電子状態分析を目指した電子顕微鏡用SXES装置の汎用化開発
    寺内正己, 小池雅人
    第8回X線結像光学シンポジウム,神戸,(2005,12)

2c. Conference proceedings

  1. Soft-X-ray emission spectroscopy based on TEM (invited)
    M. Terauchi
    Abstract of EDGE2005 International EELS workshop (Austria, 5.1-5),22 (2005)
  2. Performance of a new Monochromator for a 200 kV Analytical Electron Microscope
    M. Mukai, T. Kanayama, T. Tomota, K. Tsuno, M. Terauchi, K. Tsuda, M. Naruse, T. Honda, M. Tanaka
    Abstract of EDGE2005 International EELS workshop (Austria, 5.1-5), 25 (2005)
  3. Development of wavelength-dispersive X-ray spectrometer for a conventional analytical transmission electron microscope M. Terauchi, M. Koike, K. Fukushima, J. Kimura
    Abstract of EDGE2005 International EELS workshop (Austria, 5.1-5), 54 (2005)
  4. High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of the electronic structure of two-wall carbon nanotubes
    Y. Sato, M. Tereauchi, Y. Saito and R. Saito
    Abstract of EDGE2005 International EELS workshop (Austria, 5.1-5), 135 (2005)
  5. Performance of a new Monochromator for a 200 kV Analytical Electron Microscope
    M.Mukai, T.Kanayama, T.Tomota, K.Tsuno, M.Terauchi, K. suda, M.Naruse, T.Honda and M.Tanaka
    Microscopy & Microanalysis, 11(2) (USA, 8/1-5), 2134-2135 (2005)
  6. Ultra High-Energy-Resolution Soft-X-ray emission Spectroscopy for TEM/STEM
    Y.Murooka, Y.Ito, W.J.Fabella and M.Terauchi
    Microscopy & Microanalysis, late poster session (USA, 8/1-5), (2005)
  7. Synthesis,Nanoindentation and afm studies of cvd boron carbon nitride films
    M.L. Kosinova,N.I. Fainer,V.S. Sulyaeva, Yu.M. Rumyantsev, F.A.Kuznetsov, E.A. Maximovskii, Z. Cao, M. Terauchi, K. Shibata, F. Satoh
    Proceedings of 15th European conference on chemical vapor deposition (Germany, 9/4-9), 1082-1087 (2005)
  8. Structure and electronic properties of Mg-doped a- and b-rhombohedral boron
    H. Hyodo, S. Araake, K. Soga, Y. Satoh, M. Terauchi, K. Kimura
    Abstract of ISBB2005 (Humberg, 8/21-26), 2005
  9. Nanocrystalline films of silicon carbonitride: chemical composition and bonding and functional properties
    N.I. Fainer, M.L. Kosinova, Yu.M. Rumyantsev, E.A. Maximovskii, B.M. Ayupov, B.A. Kolesov, F.A. Kuznetsov, V.G.Kesler, M. Terauchi, K. Shibata, F. Satoh and Z.X. Cao
    Proceedings of 15th European conference on chemical vapor deposition (Germany, 9/4-9), 1074-1081 (2005)