2004研究活動

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1. Original Papers and Reviews

1a. Original Papers

  1. Refinement of the crystal structural parameters of the intermediate phase of h-BaTiO3using convergent-beam electron diffraction
    Y. Ogata, K. Tsuda, Y. Akishige,M. Tanaka
    Acta Cryst. ,A60(6),525-531(2004)
  2. Investigation of the Structure of Single Crystal Sr3Ru2O7 by Neutron and Convergent Beam Electron Diffractions
    Ryoji Kiyanagi, Kenji Tsuda, Naofumi Aso, Hiroyuki Kimura, Yukio Noda, Yoshiyuki Yoshida, Sin-Ichi Ikeda,Yoshiya Uwatoko
    J. Phys. Soc. Jpn.,73(3),639-642(2004)
  3. The structural and electric properties of the perovskite system BaTiO3-Ba(Fe1/2Ta1/2)O3
    G.Li, S.Liu, F.Liao, S.Tian, X.Jing, J.Lin, Y.Uesu, K.Kohn, K.Saitoh, M.Terauchi, N.Di,Z.Cheng
    J. Solid State Chem,177,1695-1703(2004)
  4. High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of the electronic structure of Cu- and Mg-Si-doped b-rhombohedral boron crystals
    Masami Terauchi, Yohei Sato, Takahiro Nakayama, Atsushi Oguri,Kaoru Kimura
    J. Solid State Chem.,177,2916-2919(2004)
  5. Li- and Mg-doping into Icosahedral Boron Crystals, a- and b-Rhombohedral Boron, Targeting High Temperature Superconductivity: Structure and Electronic States
    Kohei Soga, Atsushi Oguri, Satoshi Araake, Masami Terauchi, Akihiko Fujiwara,Kaoru Kimura
    J. Solid State Chem.,177,498-506(2004)
  6. Lattice parameter determination of a strained area of an InAs layer on a GaAs substrate using CBED
    Takayuki Akaogi, Kenji Tsuda, Masami Terauchi, Michiyoshi Tanaka
    Journal of Electron Microscopy,53(1),11-19(2004)
  7. Metal transition of α-rhombohedral Boron by Li- and Mg-dopings observed by high energy-resolution electron energy-loss spectroscopy
    M.Terauchi, A.Oguri, K.Kimura and A.Fujiwara
    J. Electron Microscopy, 53(6), 589-592 (2004)
  8. Lattice parameter determination of a composition controlled Si1-xGex layer on a Si (001) substrate using convergent-beam electron diffraction
    T.Akaogi, K.Tsuda, M.Terauchi and M.Tanaka
    J. Electron Microscopy, 53(6), 593-600 (2004)

1b. Reviews

  1. 高エネルギー分解能ナノスケール軟X線分光系の開発
    寺内正己, 小池雅人, 石野雅彦
    JAERI-Conf, 2004-009, 91-94 (2004)
  2. TEM用軟X線発光分光装置の開発
    寺内正己
    電子顕微鏡, 39(3), (2004)
  3. 収束電子回折法によるLaCrO3の結晶構造・電子密度分布解析
    津田健治，小形曜一郎，高木一成，田中通義，橋本拓也
    まてりあ, 43(12), 990 (2004)

1c. Books and articles

  1. 形の科学百科事典 (2004)
    津田健治，齋藤晃，寺内正己，田中通義
    (朝倉書店）(分担執筆)

1d. Awards

  1. 日本顕微鏡学会学会賞（瀬藤賞)
    【顕微法基礎部門】「収束電子回折法による精密結晶構造・電子密度解析法の開発と応用」
    津田健治
    日本顕微鏡学会,(2004.6.9)
  2. Microbeam Analysis Society 2004 Macres Award for Best Instrumentation Paper (38th Annual Meeting)
    M. Terauchi
    Microbeam Analysis Society(2004)

2. Conferences

2a. International conferences

  1. Refinement of crystal structural parameters and charge density using convergent-beam electron diffraction (invited)
    Kenji Tsuda, Yoichiro Ogata, Michiyoshi Tanaka
    8th Australian Conference of Microscopy and Microanalysis,Australia,Geelong,(2004.2)
  2. Test results of MIRAI-21 analytical electron microscope
    M. Mukai, T. Kaneyama, T. Tomita, K. Tsuno, M. Terauchi, K. Tsuda, D. Ioanoviciu, G. Martinez, M. Naruse, T. Honda and M. Tanaka
    8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,Japan,Kanazawa,(2004.6)
  3. High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of the electronic structure of two-wall carbon nanotubes
    Y. Sato, M. Terauchi, Y. Saito and R. Saito
    8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,Japan,Kanazawa,(2004.6)
  4. Development of a wavelength-dispersive soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to investigate the density of states of the valence band (invited)
    M. Terauchi
    8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,Japan,Kanazawa,(2004.6)
  5. Lattice parameter determination of a composition controlled Si1-xGex layer on a Si (001) substrate using a CBED
    T. Akaogi, K. Tsuda, M. Terauchi and M. Tanaka
    8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,Japan,Kanazawa,(2004.6)
  6. Refinement of crystal structural parameters and charge density using convergent-beam electron diffraction (invited)
    Kenji Tsuda, Yoichiro Ogata, Michiyoshi Tanaka
    8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,Japan,Kanazawa,(2004.6)
  7. A CBED technique for observation of polarity (invited)
    M. Terauchi
    2nd German-Japanese school on CBED,Geaman,TU-Ilmenau,(2004.6)
  8. Detection of the As-doped region in silicon by convergent-beam electron diffraction (invited)
    M. Terauchi, H. Mitsuishi, K. Tsuda and K. Kawamura
    2nd German-Japanese school on CBED,Geaman,TU-Ilmenau,(2004.6)
  9. CBED refinement of crystal structure and charge density
    K. Tsuda
    2nd German-Japanese school on CBED,Geaman,TU-Ilmenau,(2004.6)
  10. Refinement of crystal structural parameters and charge density using convergent-beam electron diffraction (invited)
    Kenji Tsuda, Yoichiro Ogata ,Michiyoshi Tanaka
    Gordon Research Conference "Electron Distribution and Chemical Bonding",USA,South Hadley,(2004.7)
  11. Preparation of a novel copper catalyst from Al-Cu-Fe quasicrystalline
    S. Kameoka, T. Tanabe, M. Terauchi, A. P. Tsai
    13th International Congress on Catalysis ,France,Paris,(2004.7)
  12. Local lattice parameter determination of strained area of semiconductors using CBED
    T. Akaogi, K. Tsuda, M. Terauchi and M. Tanaka,
    Microscopy & Microanalysis 2004, USA, (2004.8)
  13. Detection of characteristic signals from As-doped (less than 1 at.%) regions of silicon by transmission electron microscopy and convergent-beam electron diffraction
    M. Terauchi, K. Tsuda, H. Mitsuishi and K. Kawamura
    Microscopy & Microanalysis 2004, USA, (2004.8)
  14. Performance of MIRAI-21 analytical electron microscope
    M. Mukai, T. Kaneyama, T. Tomita, K. Tsuno, M. Terauchi, K. Tsuda, D. Ioanoviciu, G. Martinez, M. Naruse, T. Honda and M. Tanaka
    Microscopy & Microanalysis 2004, USA, (2004.8)
  15. A high energy-resolution wavelength-dispersive soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to investigate valence electrons (invited)
    M. Terauchi
    Microscopy & Microanalysis 2004, USA, (2004.8)

2b. Domestic conferences

  1. 電子線による価電子分布の可視化 (invited)
    津田健治
    日本物理学会,,福岡,(2004.3)
  2. 高エネルギー分解能ナノスケール軟X線分光系の開発と応用 (invited)
    寺内正己,小池雅人
    研究会「軟X線光学素子の生成と評価の現状と将来展望(III) 」,,原研関西研,(2004.3)
  3. ナノスケールでの電子状態解析 (invited)
    寺内正己
    理研シンポジウム「多元素ナノ粒子の製造と評価技術」,,理化学研究所,(2004.8)
  4. 電子顕微鏡用高分解能X線発光分光装置の開発 (invited)
    寺内正己
    日本学術振興会マイクロビームアナリシス141委員会 第117回研究会,,名古屋,(2004.9)
  5. AsドープSiの収束電子回折図形の統計的動力学理論による解析
    津田健治, 三ッ石創, 寺内正己, 川村和郎
    日本結晶学会,,大阪,(2004.11)
  6. TEM-EELSによる六方晶ダイアモンドの電子構造の研究
    居波渉, 寺内正己, 吉朝朗
    日本結晶学会,大阪,(2004.11)
  7. 収束電子回折法によるLa1-xSrxCrO3 (x=0.3)の電子密度分布の解析
    小形曜一郎, 津田健治, 田中通義, 橋本拓也
    日本結晶学会,大阪,(2004.11)
  8. 高エネルギー分解能ナノスケール軟X線分光系の開発と応用
    寺内正己, 小池雅人, 石野雅彦
    第6回光量子科学研究シンポジウム,京都,(2004.11)
  9. 透過型電子顕微鏡用軟X線広波長領域平面結像型分光器の光学設計
    小池雅人, 寺内正己
    第6回光量子科学研究シンポジウム,京都,(2004.11)
  10. Mgドープボロン正20面体クラスター固体の物性2
    荒明 聡, 兵藤 宏, 曽我公平, 佐藤庸平, 寺内正己, 木村 薫
    日本物理学会,福岡,(2004.3)
  11. TEM-EELSによるAl基準結晶の準安定相と安定相の研究
    上道雄介, 寺内正己, 蔡 安邦
    日本物理学会,福岡,(2004.3)
  12. TEM-EELSによるカーボンナノチューブの電子構造の研究
    佐藤庸平, 寺内正己, 斎藤理一郎, 斎藤弥八, 片浦弘道
    日本物理学会,福岡,(2004.3)
  13. TEM-XESによるAl基準結晶の準安定相と安定相の研究
    寺内正己, 上道雄介, 蔡 安邦
    日本物理学会,福岡,(2004.3)
  14. チタン酸バリウムの180°分域のコントラストI
    田中通義, 応本和也, 津田健治, 寺内正己
    日本物理学会,福岡,(2004.3)
  15. 収束電子回折による局所歪み測定法の開発IV
    赤荻隆之, 津田健治, 寺内正己, 田中通義
    日本物理学会,福岡,(2004.3)
  16. 収束電子回折法によるLa1-xSrxCrO3の電子密度分布の解析
    小形曜一郎, 津田健治, 田中通義, 橋本拓也
    日本物理学会,福岡,(2004.3)
  17. 統計的動力学回折理論の電子回折への適用II
    津田健治, 寺内正己, 川村和郎
    日本物理学会,福岡,(2004.3)
  18. Si中As注入領域から得た収束電子回折図形の定量解析
    三ッ石創, 津田健治, 寺内正己, 川村和郎
    日本物理学会,福岡,(2004.3)
  19. Mgドープb菱面体晶ボロンの構造と物性
    荒明聡,兵藤宏,曽我公平,佐藤庸平,寺内正己,木村薫
    第3回界面ナノアーキテクストニクスワークショップ,つくば（産総研),(2004.3)
  20. Si中Asドープ領域から得た収束電子回折図形の定量解析II
    東北大多元研, 富士通, 三ッ石創, 津田健治, 寺内正己, 川村和郎
    日本物理学会,青森,(2004.9)
  21. TEM-EELS/XESによる単層カーボンナノチューブ束の電子構造の研究
    東北大多元研,産総研,佐藤庸平, 寺内正己, 片浦弘道
    日本物理学会,青森,(2004.9)
  22. TEM-EELSによるAl基準結晶と近似結晶の電子構造の研究
    東北大多元研, 物材機構, 名大エコトピア機構, 上道雄介, 寺内正己, 蔡安邦, 竹内恒博, 水谷宇一郎
    日本物理学会,青森,(2004.9)
  23. TEM-EELSによる六方晶ダイアモンドの電子構造の研究
    東北大多元研, 日本電子, 熊本大理, 居波渉, 寺内正己, 吉朝郎
    日本物理学会,青森,(2004.9)
  24. TEM-XESによるAl基準結晶と近似結晶の電子構造の研究
    東北大多元研, 物材機構, 名大エコトピア, 寺内正己, 蔡安邦, 竹内恒博, 水谷宇一郎
    日本物理学会,青森,(2004.9)
  25. 収束電子回折法によるLa1-xSrxCrO3(x=0.3)の電子密度分布の解析II
    東北大多元研, 日大文理, 小形曜一郎, 津田健治, 田中通義, 橋本拓也
    日本物理学会,青森,(2004.9)
  26. 準結晶金属を前駆物質とした新規触媒の調整
    亀岡聡, 田邉豊和, 佐藤二美, 寺内正己, 蔡安邦
    第94回触媒討論会,仙台,(2004.9)

2c. Conference proceedings

  1. Test results of MIRAI-21 analytical electron microscope
    M. Mukai, T. Kaneyama, T. Tomita, K. Tsuno, M. Terauchi, K. Tsuda, D. Ioanoviciu, G. Martinez, M. Naruse, T. Honda, M. Tanaka
    Proc. of 8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,117-118(2004)
  2. High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy study of the electronic structure of two-wall carbon nanotubes
    Y. Sato, M. Terauchi, Y. Saito,R. Saito
    Proc. of 8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,150-151(2004)
  3. Development of a wavelength-dispersive soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to investigate the density of states of the valence band (invited)
    M. Terauchi
    Proc. of 8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,159-160(2004)
  4. Lattice parameter determination of a composition controlled Si1-xGex layer on a Si (001) substrate using a CBED
    T. Akaogi, K. Tsuda, M. Terauchi, M. Tanaka
    Proc. of 8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,150-151(2004)
  5. Preparation of a novel copper catalyst from Al-Cu-Fe quasicrystalline
    S. Kameoka, T. Tanabe, M. Terauchi, A.P. Tsai
    Abstract of 13th International Congress on Catalysis, 1-276, (2004)
  6. A high energy-resolution wavelength-dispersive soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to investigate valence electrons (invited)
    M. Terauchi
    Microscopy & Microanalysis,10(2), 1044-1045(2004)
  7. Local lattice parameter determination of strained area of semiconductors using CBED
    T. Akaogi, K. Tsuda, M. Terauchi, M. Tanaka
    Microscopy & Microanalysis,10(2), 310-311(2004)
  8. Detection of characteristic signals from As-doped (less than 1 at.%) regions of silicon by transmission electron microscopy and convergent-beam electron diffraction
    M. Terauchi, K. Tsuda, H. Mitsuishi, K. Kawamura
    Microscopy & Microanalysis,10(2), 338-339(2004)
  9. Performance of MIRAI-21 analytical electron microscope
    M. Mukai, T. Kaneyama, T. Tomita, K. Tsuno, M. Terauchi, K. Tsuda, D. Ioanoviciu, G. Martinez, M. Naruse, T. Honda, M. Tanaka
    Microscopy & Microanalysis,10(2), 858-859(2004)
  10. Refinement of crystal structural parameters and charge density using convergent-beam electron diffraction
    K. Tsuda, Y. Ogata and M. Tanaka
    Abstract of the 18th Australian conference on microscopy and microanalysis, 85 (2004)
  11. Refinement of crystal structural parameters and charge density using convergent-beam electron diffraction
    K. Tsuda, Y. Ogata and M. Tanaka
    Proceedings of 8th Asia-Pacific conference on electron microscopy,30-31(2004)