Others

Back to the main page

1986-1990, 1991-1995, 1996-2000, 2001-2005, 2006-2010 2011-2015 2016-2020 2021-2025

    1986-1990
  1. Simultaneous Observation of a Zone-Axis Pattern and ±G Dark-Field Patterns in Convergent-Beam Electron Diffraction
    M.Tanaka and M.Terauchi
    JEOL NEWS, vol.24E(3), 62-66 (1986).

  2. 収束電子回折における新技術 -晶帯軸図形と±G暗視野図形の同時観察法-
    田中通義、寺内正己
    日本電子ニュース、vol.26(4), 58-62 (1986).

  3. Simultaneous Observation of a Zone-Axis and a ±G Dark-Field Pattern in Convergent-Beam Electron Diffraction II
    M.Tanaka and M.Terauchi
    JEOL NEWS, vol.25E(2), 26-30 (1987).

  4. 収束電子回折によるAl-Mn, Al-Mn-Si準結晶の研究
    田中通義、寺内正己
    固体物理、vol.22(3), 193-199 (1987).

  5. 収束電子回折における新技術II -晶帯軸図形と±G暗視野図形の同時観察法II-
    田中通義、寺内正己
    日本電子ニュース、vol.28(1), 8-12 (1988).

  6. Application of a JEM-2010 Electron Microscope To High Resolution Imaging And Convergent-Beam Electron Diffraction
    M.Terauchi and M.Tanaka
    JEOL NEWS, vol.28E(1), 8-11 (1990).

    1991-1995
  7. ウィーンフィルターを用いた高分解能エネルギー分析電子顕微鏡
    寺内正己、田中通義、津野勝重
    細胞、vol.23(11), 42-45 (1991).

  8. 収束電子回折法による4次元空間群の決定
    寺内正己、田中通義
    日本結晶学会誌、vol.34(1), 11-18 (1992).

  9. Observation of Interference Fringes in Convergent-Beam Electron Diffraction
    K.Tsuda, M.Terauchi, M.Tanaka, T.Kanetama and T.Honda
    JEOL NEWS, vol.31E(1), 12-16 (1994).

  10. コヒーレント収束電子回折
    田中通義、津田健治、寺内正己
    電子顕微鏡、vol.29(3), 171-180 (1995).

  11. 高分解能エネルギー分析電子顕微鏡の開発-フラレンへの応用-
    寺内正己、葛尾竜一、田中通義
    日本物理学会誌、vol.50(7), 566-569 (1995).

    1996-2000
  12. 高分解能EELS
    寺内正己、田中通義
    電子顕微鏡、vol.31(2/3), 136-140 (1996).

  13. 収束電子回折法における技術的進展
    寺内正己
    日本結晶学会誌、vol.39(3), 239-247 (1997).

  14. Performance of a Newly Developed O-filter Electron Microscope JEM-2010FEF
    K.Tsuda, K.Saitoh, M.Terauchi, M.Tanaka, T.Kanetama, K.Tsuno, T.Honda and M.Ishida
    JEOL NEWS, vol.33E(1), 2-8 (1998).

  15. 高分解能電子エネルギー損失分光電子顕微鏡
    寺内正己、田中通義
    日本金属学会誌「まてりあ」、vol.38(3), 117 (1999).

  16. 高機能電子顕微鏡を用いて明らかにされた準結晶構造と準単位胞モデル
    田中通義、寺内正己、津田健治、斎藤晃、蔡安邦、安部英司
    日本金属学会誌「まてりあ」、vol.39(8), 645-653 (2000).

    2001-2005
  17. 電子顕微鏡用軟X線分光器の製作
    寺内正己、山本秀人、田中通義、鈴木正よし、新田健一、伊藤栄一、高橋郁夫
    東北大学科学計測研究所報告、vol.49(1), 61-66 (2001).

  18. 電子顕微鏡によるナノ領域の価電子帯DOS測定法の開発
    寺内正己、田中通義
    固体物理、vol.36(5), 29-34 (2001).

  19. EELSで何が分かるのか？
    寺内正己
    日本結晶学会誌、vol.44(5), 277-283 (2002).

  20. EESLを用いた電子構造解析
    寺内正己
    日本結晶学会誌、vol.44(6), 347-354 (2002).

  21. 炭素を含まないナノチューブ
    寺内正己
    パリティ、vol.18(8), 41-45 (2003).

  22. 透過型電子顕微鏡を用いた電子状態解析
    寺内正己
    電子顕微鏡、vol.38(3), 186-191 (2003).

  23. 高エネルギー分解能ナノスケール軟X線分光系の開発
    寺内正己、小池雅人、石野雅彦
    JAERI-Conf、2004-009, 91-94 (2004).

  24. TEM用軟X線発光分光装置の開発
    寺内正己
    電子顕微鏡、vol.39(3), 200-203 (2004).

  25. TEM-XES法による電子状態解析
    寺内正己
    日本結晶学会誌、vol.47(1), 79-82 (2005).

  26. 高エネルギー分解能ナノスケール軟X線分光系の開発と応用
    寺内正己、小池雅人、石野雅彦
    JAERI-Conf、2005-004, 74-77 (2005).

  27. 透過型電子顕微鏡用軟X線広波長領域平面結像型分光器の光学設計
    小池雅人、寺内正己
    JAERI-Conf、2005-004, 235-238 (2005).

  28. 電子顕微鏡を用いた物性解析技術開発の最新動向
    寺内正己
    セラミックス、vol.40(11), 918-922 (2005).

    2006-2010
  29. 電子線を用いた準結晶の電子状態研究−準結晶の特徴は何か−
    寺内正己
    日本結晶学会誌、vol.49(1), 51-54 (2007).

  30. ナノスケール軟X線分光系の高検出効率化に関する研究
    寺内正己、小池雅人、石野雅彦、今園孝志
    JAERI-Conf、2007-001, 167-170 (2007).

  31. 透過型電子顕微鏡を使ったすずめっき膜構造の解析
    寺内正己、佐藤二美
    UYEMURA Technical Report, vol.63, 3-8 (2008).

  32. 分析手法EELS&XESにおける最近の進展
    寺内正己
    金属、vol.78(5), 18-23 (2008).

  33. ナノスケール軟X線発光分析の新展開−X線多層膜回折格子の応用−
    寺内正己、米田雄一、小池雅人、石野雅彦、今園孝志
    JAERI-Conf、2008-007, 29-32 (2008).

  34. Co/SiO2多層膜の耐熱性評価
    石野雅彦、小池雅人、兼平美香、佐藤二美、寺内正己、佐野一雄
    JAERI-Conf、2008-007, 147-150 (2008).

  35. 高分解能EELSを用いたLaB6微粒子の近赤外吸収の研究
    佐藤庸平、寺内正己、向井雅貴、金山俊克、足立健治
    まてりあ、vol.48, 634 (2009).

  36. Co/SiO2多層膜回折格子の構造と光学特性評価
    石野雅彦、佐藤二美、寺内正己、佐野一雄、笹井一雄、小池雅人
    JAERI-Conf、2009-007, 65-68 (2010).

  37. ナノスケール軟X線発光分光装置の角度分解SXES計測への適用
    寺内正己、小池雅人
    JAERI-Conf、2010-002, 71-74 (2010).

  38. Evaluation of optical and structural properties of Co based soft x-ray multilayer gratings
    M.Ishino, M.Koike, F.Satou, M.Terauchi, K.Sano and H.Sasai
    Memoirs of the SR center, Ritsumeikan University, vol.12, 75-85 (2010).

    2011-2015
  39. 合金触媒の薄膜試料作製法と透過型電子顕微鏡観察
    田邊豊和、寺内正己
    触媒(Catalysts ＆ Catalysis), vol.53(No.1), 14-18 (2011).

  40. 電子プローブを用いた構造・物性解析手法の開発と応用
    寺内正己、津田健治、佐藤庸平
    Materials Integration, vol.24(No.4&5), 208-211 (2011).

  41. 電子顕微鏡を用いた価電子（結合電子）状態分析技術の開発
    寺内正己
    顕微鏡, vol.46(No.2), 105-110 (2011).

  42. A New WDS Spectrometer for Valence Electron Spectroscopy Based on Electron Microscopy
    M.Terauchi, H.Takahashi, N.Handa, T.Murano, M.Koike, T.Kawachi, T.Imazono, M.Koeda, T.Nagano, H.Sasai, Y.Oue, Z.Yonezawa and S.Kuramoto
    JEOL News, vol.47, 23-28 (2012).

  43. 新WDS装置を用いた軟X線発光分光による価電子状態分析
    寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、河内哲哉、今園孝志、 小枝 勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、倉本智史
    日本電子ニュース、vol.44, 11-16 (2012).

  44. 新しい波長分散型軟X線発光分光器を搭載した電子プローブマイクロアナライザによる元素分析および元素の状態分析
    高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、寺内正己、小池雅人、河内哲哉、今園孝志、 小枝 勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、倉本智史
    日本電子ニュース、vol.44, 50-54 (2012).

  45. Development of Soft X-Ray Flat-Field Holographic Gratings for the Measurement of K Emission Spectrum of Li
    Takashi Imazono, Masato Koike, Tetsuya Kawachi, Noboru Hasegawa, Masaru Koeda, Tetsuya Nagano, Hiroyuki Sasai, Yuki Oue, Zeno Yonezawa, Satoshi Kuramoto, Masami Terauchi, Hideyuki Takahashi, Nobuo Handa, Takanori Murano, Kazuo Sano
    Memoirs of the SR center, Ritsumeikan University, vol.14 (2012).

  46. Development and Applications of a New Soft X-ray Emission Spectrometer for Electron Probe Microanalysis and/or Nanoanalysis
    H. Takahashi, N. Handa, T. Murano, M. Koike, T. Kawachi, T. Imazono, N. Hasegawa, M. Terauchi, M. Koeda, T. Nagano, H. Sasai, Y. Oue, Z. Yonezawa and S. Kuramoto
    JAEA-Conf、2013-001 (September 2013), 13-15 (2013).

  47. 広帯域軟X 線発光分光システムの開発
    寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、河内哲哉、今園孝志、長谷川登、小枝勝、 長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、倉本智史
    JAEA-Conf、2013-001 (September 2013), 77-80 (2013).

  48. 高分解能EELSによる六方晶ダイヤモンド粒子の誘電特性
    佐藤庸平、寺内正己、居波渉、吉朝朗
    日本結晶学会誌、vol.55, 302-307 (2013).

  49. 高分解能EELSによる六方晶ダイヤモンド粒子の誘電特性
    佐藤庸平、寺内正己、居波渉、吉朝朗
    ニューダイヤモンド、vol.30(2), 6-10 (2014).

  50. キーマテリアルの高分解能顕微状態分析技術の開発
    寺内正己
    Isotope News、vol.722, 2-7 (2014).

  51. Characteristic Features and Application of a Newly Developed Wavelength Dispersive Soft X-ray Emission Spectrometer for Electron Probe Microanalyzers and Scanning Electron Microscopes
    H. Takahashi, T. Murano, M. Takakura, N. Handa, M.Terauchi, M. Koike, T. Kawachi, T. Imazono, N. Hasegawa, M. Koeda, T. Nagano, H. Sasai, Y. Oue, Z. Yonezawa and S. Kuramoto
    JEOL News, vol.49, 73-80 (2014).

  52. SEMでの軟X線発光分光による化学状態分析
    寺内正己、今園孝志、小池雅人
    表面科学、vol.36, No.4, 184-188 (2015).

    2016-2020
  53. 軟X線発光分光（SXES）を用いた化学結合状態分析
    寺内正己、佐藤庸平
    日本電子news, vol.50(No.1), 13-18 (2018).

  54. Chemical State Analyses by Soft X-ray Emission Spectroscopy
    M. Terauchi and Y. Sato
    JEOL NEWS, vol.53 (No.1), 30-35 (2018).

  55. 電子顕微鏡―軟X線発光分光法による電子状態解析
    寺内正己
    セラミックス、vol.54, No.2, 81-84 (2019).

  56. 軟X線発光分光の基礎とその応用
    寺内正己
    日本結晶学会誌、vol.61, No.1, 2-6 (2019).

  57. 可視光‐運動エネルギー変換能を有するアモルファス窒化炭素薄膜
    青野祐美、原田人萌、寺内正己
    ニューダイヤモンド、vol.133, No.2, 30-33 (2019).

  58. 電子エネルギー損失分光法による材料誘電特性解析の基礎と応用
    佐藤庸平、寺内正己
    顕微鏡、vol.55, No.2, 75-82 (2020).

    2021-2025
  59. 顕微軟X線発光分光法を用いた固体の化学結合状態分析
    寺内正己、佐藤庸平、武田雅敏
    まてりあ、vol.20, No.6, 341-346 (2021).

  60. Total electronic structure analysis realized with soft X-rays
    Masami Terauchi
    Research Features Magazine、issue 141, 10-13 (2022), May 6, 2022.

Top