Invited talks
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1985-89,
1990-94,
1995-99,
2000-02,
2003-05,
2006-08,
2009-11
2012-14
2015-17
2018-20
2021-23
2024-26
1985-1989
- 収束電子回折法による結晶対称性の決定
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 第1回分析電顕討論会, 1985/9/26, 東大生産研.
- 収束電子回折（CBED）法
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 第3回分析電顕討論会, 1987/9/18, 東大生産研.
1990-1994
- 高分解能EELS装置の開発
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 第6回分析電顕討論会, 1990/9/19, 東大生産研.
- 収束電子回折法による格子欠陥研究
寺内正己, 石川 明, 田中通義
日本物理学会 X線・粒子線,イオン結晶・光物性合同シンポジウム, 1990/10/3, 岐阜大.
- 収束電子回折法による空間群、超空間群（4次元空間群）の決定
寺内正己, 高橋真理子, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡の基礎と新手法研究部会, 1990/12/12, 埼玉厚生年金休暇センター.
- 超高分解能エネルギー分析電子顕微鏡の開発と応用
寺内正己, 葛尾竜一, 田中通義, 津野勝重, 大山純一
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡の基礎と新手法研究部会, 1991/12/6, 国民年金保養センター(太宰府).
- 超高分解能EELS
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 第8回分析電顕討論回, 1992/9/1, 北とぴあ(東京北区).
- TEM-高分解能EELSによる固体の電子構造の研究
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡周辺機器の活用・開発とその応用に関する研究部会, 1992/12/11, 千里ライフサイエンスセンター(大阪).
- 透過型高分解能EELSによるフラーレンの研究
寺内正己, 葛尾竜一, 田中通義, 斉藤弥八, 篠原久典
日本物理学会 イオン結晶・光物性,分子性固体・液晶・有機導体合同シンポジウム, 1993/10/14, 岡山大.
- コヒーレント収束電子回折
寺内正己, 田中通義, 津田健治, 上村 理
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡による材料研究のための新手法研究部会, 1993/11/26, 藤ヶ丘サンプラザ(名古屋).
- FETEMとコヒーレント収束電子回折
寺内正己, 津田健治, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 関東支部講演会, 1994/3/18, 東京慈恵会医大.
1995-1999
- 透過型EELS法による固体の電子構造の研究
寺内正己, 田中通義
日本物理学会 X線・粒子線分科シンポジウム, 1996/10/2, 山口大.
- EELSによる電子構造解析
寺内正己, 田中通義
日本電子顕微鏡学会 電子顕微鏡の周辺機器の活用・開発とその応用に関する研究部会, 1996/11/20, 阪大産研.
- 電子回折法
寺内正己
日本電子顕微鏡学会 第7回電子顕微鏡大学(講師), 1997/4/22, 東大山上会館.
- High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy microscope
M.Terauchi and M.Tanaka
7th conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, 1998/4/21, Germany(Irsee).
- 高分解能エネルギー分析電子顕微鏡
寺内正己, 田中通義
原子衝突研究協会 第23回研究会, 1998/8/22, 慶応大(神奈川).
- 透過型高分解能EELS電子顕微鏡による電子構造解析
寺内正己, 田中通義
ファインセラミックスセンターセミナー, 1998/10/23, JFCC(名古屋).
- EELSによるBNナノチューブの電子構造
寺内正己, 田中通義, 齋藤弥八
日本電子顕微鏡学会 第43回シンポジウム, 1998/10/29, 千葉大.
- Electron energy-loss spectroscopy study of the electronic structure of boron-nitride nanotubes
M.Terauchi, M.Tanaka and Y.Saito
6th NIRIM International Symposium on Advanced Materials, 1999/3/1, NIRIM(Tsukuba).
- 高分解能EELSによるBNの電子構造の研究
寺内正己, 田中通義
日本物理学会 特別講演(領域10), 1999/9/27, 岩手大.
2000-2002
- 高分解能EELS電子顕微鏡
寺内正己
新世紀の高感度・高分解能電子顕微鏡ワークショップ, 2000/1/27, 金材技研.
- High energy-resolution EELS microscope and its application
M.Terauchi and M.Tanaka
The 7th NIRIM International Symposium on Advanced Materials, 2000/3/1, Hayama(Japan).
- High energy-resolution EELS
M.Terauchi and M.Tanaka
International Symposium on Spectroscopy of Materials, 2000/3, Tegernsee(Germany).
- 分析電子顕微鏡の基礎と最新技術-EELS
寺内正己
金属学会セミナー「最新電顕法の基礎と応用」, 2000/3/28, 横浜国大.
- 高分解能電子エネルギー損失分光電子顕微鏡の開発と応用 (学会賞受賞講演)
寺内正己
日本電子顕微鏡学会 第56回学術講演会, 2000/5/18, 北とぴあ(東京北区).
- High energy-resolution electron energy-loss spectroscopy based on electron microscopy
M.Terauchi and M.Tanaka
2nd meeting of International Union of Microbeam Analysis Societies, 2000/7/10, Hawaii.
- Advances in symmetry analysis by convergent-beam electron diffraction
M.Terauchi and M.Tanaka
2nd meeting of International Union of Microbeam Analysis Societies, 2000/7/11, Hawaii.
- High energy-resolution EELS and X-ray spectroscopy
M.Terauchi and M.Tanaka
8th conference on Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, 2000/11/17, Matsue(Japan).
- TEM法による構造解析の基礎
寺内正己
日本電子顕微鏡学会関西支部 電子顕微鏡技術研究会, 2000/12/8, 阪大.
- 0.2eVエネルギー分解能分析電子顕微鏡の開発
田中通義, 寺内正己, 津田健治, 齊藤晃, 本田敏和, 津野勝重, 成瀬幹夫, 富田健, 金山俊克, 向井雅貴
日本電子顕微鏡学会 第57回学術講演会, 2001/5/12, アクロス福岡.
- A sub-eV resolution soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to obtain the density of states of the valence band
M.Terauchi, H.Yamamoto and M.Tanaka
Microscopy & Microanalysis, 2001/8/7, Long Beach(USA).
- 電子顕微鏡による価電子帯DOS測定法の開発
寺内正己
日本電子顕微鏡学会 第46回シンポジウム, 2001/11/16, 物質・材料研究機構.
- Development of a high energy-resolution soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope
M.Terauchi
Strategies and Advances in Atomic Level Spectroscopy and Analysis Workshop, 2002/5/7, Guadeloupe(French West Indies).
- 高エネルギー分解能分析電子顕微鏡の開発
田中通義, 寺内正己, 津田健治, 斎藤 晃, 向井雅貴, 金山俊克, 富田健, 成瀬幹夫, 津野勝重, 本田敏和
日本電子顕微鏡学会 第58回学術講演会, 2002/5/15, 大阪国際交流センター.
- Development of An 0.2eV Energy Resolution Analytical Electron Microscope
M.Tanaka, M.Terauchi, K.Tsuda, K.Saitoh, M.Mukai, T.Kaneyama, T.Tomita, K.Tsuno, M.Kersker, M.Naruse, and T.Honda
Microscopy & Microanalysis, 2002/8/8, Quebec(Canada).
- TEMによる高分解能WDSの可能性
寺内正己
日本顕微鏡学会 第47回シンポジウム, 2002/11/28, 仙台戦災復興記念館.
2003-2005
- 高分解能WDSの開発―TEM-XESの可能性―
寺内正己
日本顕微鏡学会 高分解能電子顕微鏡研究会, 2003/2/28, 北海道大学.
- High energy-resolution EELS and XES analysis of BN materials
M.Terauchi
10th International Symposium on Advanced Materials, 2003/3/13, NIMS(Tsukuba).
- 電子顕微鏡による物性解析
寺内正己
ナノテク総合支援プロジェクトユーザー会議, 2003/3/19, 物質・材料研究機構.
- 準結晶・近似結晶の疑ギャップ―実験的立場から―
寺内正己
日本物理学会 領域6シンポジウム, 2003/3/30, 東北大.
- ナノスケールでの電子状態解析
寺内正己
日本結晶学会, 2003/12/1, 熊本大
- EELSの高分解能化によって何がえられるか
寺内正己
日本顕微鏡学会 第48回シンポジウム, 2003/12/7, 東京医科歯科大.
- Development of a wavelength-dispersive soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to investigate the density of states of the valence band
M.Terauchi
8th Asia-Pacific conference on electron microscopy, 2004/6/9, Kanazawa(Japan).
- A CBED technique for observation of polarity
M.Terauchi
2nd German-Japanese school on CBED, 2004/6/22, TU-Ilmenau(Germany).
- Detection of the As-doped region in silicon by convergent-beam electron diffraction
M.Terauchi, H.Mitsuishi, K.Tsuda and K.Kawamura
2nd German-Japanese school on CBED, 2004/6/23, TU-Ilmenau(Germany).
- A high energy-resolution wavelength-dispersive soft-X-ray spectrometer for a transmission electron microscope to investigate valence electrons
M.Terauchi
Microscopy & Microanalysis, 2004/8/3, Savannah(USA).
- ナノスケールでの電子状態解析
寺内正己
理研シンポジウム「多元素ナノ粒子の製造と評価技術」, 2004/8/23, 理化学研究所.
- 電子顕微鏡用高分解能X線発光分光装置の開発
寺内正己
日本学術振興会ﾏｲｸﾛﾋﾞｰﾑｱﾅﾘｼｽ141委員会 第117回研究会, 2004/9/17, 名古屋大学.
- TEM用WDSの開発と価電子状態分析
寺内正己
日本顕微鏡学会第29回関東支部講演会, 2005/3/5, 東京医科大学病院.
- High-resolution electron spectroscopy - EELS/XES
Masami Terauchi
日本物理学会 領域6・領域10合同シンポジウム, 2005/3/26, 東京理科大.
- Soft-X-ray emission spectroscopy based on TEM
M. Terauchi
EDGE2005 International EELS workshop, 2005/5/3, Grundlsee(Austria).
- モノクロEELSによる高分解能電子状態解析
寺内正己、佐藤庸平
日本顕微鏡学会, 2005/6/2, 筑波.
- ボロンクラスター物質群の電子線分光法による物性研究
寺内正己
日本応用物理学会, 2005/9/10, 徳島（徳島大）.
- TEM-WDSによる材料研究の可能性
寺内正己
日本顕微鏡学会 第50回シンポジウム, 2005/11/2, 福岡（九大）.
2006-2008
- Recent advances in spectroscopy methods based on TEM
M. Terauchi
10th SANKEN Int. Symp. on Nanoscience and Nanotechnology 2006, 2006/9/20, Osaka Univ.
- 電子顕微鏡用XES装置開発
寺内正己
研究会「軟X線光学素子の生成と評価の現状と将来展望(V)」, 2007/3/7, 日本原子力機構関西光科学研究所.
- 高エネルギー分解能Ｘ線検出器による物性研究の新しい可能性
寺内正己
日本物理学会, 領域10シンポジウム, 2007/3/19, 鹿児島大学.
- 高分解能WDSシステムの開発とその方向性
寺内正己, 米田雄一, 小池雅人
日本顕微鏡学会 第63回学術講演会, 2007/5/22, 新潟（朱鷺メッセ）.
- ナノスケールX線発光分析の新展開−X線多層膜回折格子の応用
寺内正己, 米田雄一, 小池雅人, 石野雅彦, 今園孝志
第8回光量子科学研究シンポジウム, 2007/6/5, 日本原子力機構関西光科学研究所.
- Recent development of soft-X-ray emission spectroscopy instruments for a conventional analytical transmission electron microscope
M. Terauchi and M. Koike
11th Frontiers of Electron Microscopy in Materials Science, 2007/9/28, Sonoma county (USA).
- 分析電子顕微鏡法の新展開
寺内正己
日本顕微鏡学会シンポジウム, 2007/10/19, 徳島（徳島大学）.
- 電子顕微鏡によるメッキ膜構造解析
寺内正己
エレクトロニクス実装学会 錫ウィスカ研究会, 2007/10/29, 東京.
- Total electronic structure analysis by EELS & SXES based on transmission electron microscopy
M.Terauchi
The 1st Int. Symp. on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (6/29-30, Nagoya), 110-111 (2008).
- WDSによる状態分析
寺内正己
第24回分析電子顕微鏡討論会, 2008/9/2, 幕張メッセ.
- Nano-spectroscopies based on transmission electron microscopy
Masami Terauchi
4th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium (9/29-10/1, Osaka), O2-1 (2008).
- 透過電子顕微鏡を使ったすずめっき膜の構造解析
寺内正己、田邉豊和、佐藤二美
日本金属学会 ナノプレーティング研究会, 2008/9/30, 慶応大学.
- Recent development of soft-X-ray emission spectroscopy instruments for a conventional analytical transmission electron microscope
M.Terauchi and M.Koike
9th Asia-Pacific Microscopy Conference (11/2-7, Korea), (2008).
2009-2011
- 電子エネルギー損失分光法の基礎
寺内正己
日本電子顕微鏡学会、2009/5/26、仙台国際センター.
- Development of TEM-SXES instruments for valence electron spectroscopy
M. Terauchi
Microscopy & Microanalysis 2009, 2009/7/28, Richmond.
- TEM-EELS/SXESによるナノスケール電子状態解析
寺内正己、佐藤庸平
応用物理学会 春季講演会シンポジウム「ナノスケール分光法による顕微評価・解析技術の最前線」、2010/3/17、東海大.
- Valence electron spectroscopy by SXES-TEM
M.Terauchi
6th International Workshop on Nano-Scale Spectroscopy and Nanotechnology (NSS6), 2010/10/25-29, Kobe University.
- 広帯域多層膜回折格子を搭載した軟X線発光分光システムの開発
寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、河内哲哉、今園孝志、長谷川登、
小枝勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、倉本智史
第11回X線結像光学シンポジウム、2011/11/5, 東北大.
2012-2014
- TEM studies on crystal and electronic structures of Quasicrystals
M.Terauchi
The 30 years of Quasicrystal International Conference at Taipei Tech, May 7-9, 2012, Taipei Taiwan.
- ナノスケール軟X線発光分光装置開発とその応用
寺内正己
第48回Ｘ線分析研究懇談会、2012/11/1、名古屋大学.
- ナノスケール軟X線発光分光システムの開発
寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、河内哲哉、今園孝志、長谷川登、小枝勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、倉本智史
日本顕微鏡学会 第56回シンポジウム、2012/11/20、北海道大学.
- 電子線を用いた顕微解析技術の進化を目指して
寺内正己、小池雅人、今園孝志
日本顕微鏡学会 第57回シンポジウム、2013/11/15、名古屋.
- 電子顕微鏡を用いたX線分析の新たな可能性
寺内正己
軟X線分析セミナー2013、2013/11/27、日本電子.
- 顕微SXES技術の開発と材料評価への応用
寺内正己
第7回風戸賞受賞講演会、2014/5/11、幕張メッセ.
- 電子顕微鏡用SXES技術の現状と今後の展望
寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、今園孝志、小枝勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、米澤善央、倉本智史
日本顕微鏡学会 第60回学術講演会、2014/5/12、幕張メッセ.
- Present State of TEM-SXES Analysis and its Application to SEM aiming Chemical Analysis of Bulk Materials
M.Terauchi, H.Takahashi, N.Handa, T.Murano, M. Koike, T.Imazono, M.Koeda, T.Nagano, H.Sasai, Y.Oue,
Z.Yonezawa and S.Kuramoto
Microscopy & Microanalysis, 2014/8/6, Hartford (USA).
- Valence Electron States of Carbon Materials studied by TEM-SXES
M.Terauchi
Microscopy & Microanalysis, 2014/8/7, Hartford (USA).
- 電子顕微鏡での軟X線発光分析技術の概要とその可能性について
寺内正己
東北大学 産学連携先端材料研究開発センター セミナー、2014/11/18、東北大.
- EM用軟X線発光分析技術開発のこれまでと今後の展望
寺内正己、高橋秀之、飯田信雄、村野孝訓、小池雅人、今園孝志、小枝勝、長野哲也、笹井浩行、大上裕紀、
米澤善央、倉本智史
日本顕微鏡学会 第56回九州支部学術講演会、2014/12/6、宮崎市民プラザ.
2015-2017
- Soft-X-ray emission spectroscopy with electron microscopy and its applications for material
characterization
M. Terauchi
NIMS Conference 2015, 15 July, Tsukuba (2015).
- 軟X線分光が拓く材料分析
寺内正己
日本物理学会 秋季大会、2015/9/18、関西大学.
- 軟X線発光分析技術の原理とその利用価値
寺内正己
JEOL Users Meeting EPMA・表面分析、2015/10/8、東京.
- 顕微SXESによるバルク試料の状態分析
寺内正己
名古屋工業大学、大型設備基盤センターセミナー、2016/3/15、名古屋.
- TEMによる分光技術の基礎と応用
寺内正己
日本学術振興会第141委員会 研修セミナー、2016/4/21、東京.
- 軟X線発光スペクトルには何が見えているか
寺内正己
JEOL Users Meeting EPMA・表面分析、2016/10/6、東京.
- 物質機能の可視化と電子線分光技術について
寺内正己
日本顕微鏡学会 第59回シンポジウム、2016/11/18、東京.
- 電子顕微鏡を用いた材料解析−LIB解析に何が有用か−
寺内正己
新型電池オープンラボ講演会、2017/7/6、神奈川大.
- 電子線を用いた局所状態分析と物質機能解析
寺内正己、佐藤庸平
分析電子顕微鏡討論会、2017/9/6、幕張メッセ.
- 軟X線発光分光の基礎とバルク状態分析
寺内正己
SCAN TECH 2017、2017/9/15、東京都市大.
2018-2020
- Soft X-ray emission spectroscopy with electron microscopy and its applications
for materials characterization
M. Terauchi
第42回KPSIセミナー、2018/8/24、量子科学技術研究開発機構関西光科学研究所.
- SXESの基礎と使い方
寺内正己
SXESスクール2018、2018/11/30、昭島.
- Introduction to soft-X-ray emission spectroscopy with electron microscope and historical perspective
M. Terauchi
Work shop of Australian Microbeam Analysis Society, 2019/2/11, Melbourne (Australia).
- Soft X-ray emission spectroscopy for chemical state analysis
M. Terauchi and Y. Sato
XVth Australian Microbeam Analysis Society symposium, 2019/2/13, Melbourne (Australia).
- Recent Progresses in Soft X-ray Emission Spectroscopy
M. Terauchi, T. Hatano, M. Koike, Alexander S. Pirozhkov, H. Sasai, T. Nagano, M. Takakura and T. Murano
EMAS 2019, 2019/5/23, Trondheim (Norway).
- Chemical State Mapping of Amorphous Carbon Films by Soft X-ray Emission Spectroscopy
M. Terauchi and Y. Sato
Microscopy and Microanalysis, 2019/8/8, Portland (USA).
- Functional imaging of p/n-controlled CaB6 and SrB6 bulk specimens by soft X-ray emission spectroscopy microscope
M. Terauchi, Y. Sato and M. Takeda
20th International Symposium on Boron, Borides and Related Materials, 2019/9/24, Niigata.
- SXESの基礎知識と使い方
寺内正己
SXESスクール2019、2019/11/27、昭島.
- A Study on Occupation Sites in M6C Carbide in High Chromium Cast Iron Using Statistical Beam-Rocking
TEM-EDS Analysis
S.Nusen, A.Wiengmoon, D.Morikawa, N.Azumi, T.Chairuangsri, K.Tsuda, M.Terauchi
6th Forum of Center for Advanced Materials Research and International Collaboration, 2020/10/1, Toyama
- Materials Analysis by using Electron Microscopes operated in IMRAM
M.Terauchi, H.Jinnai, Y.K.Sato, D.Morikawa, K.Tsuda, and Z.Akase
2020 ONLINE JOINT SYMPOSIUM Engineer a Better Tomorrow
Institute of Multidisciplinary Research for Advance Material & College of Engineering, 2020/11/30.
- SXESの基礎知識と使い方―何をどう見るか？―
寺内正己
第3回SXESスクール、2020/12/18、online.
- 顕微微SXES技術の開発と材料評価への応用
寺内正己
長岡技術科学大学SHARE機器交流会、2020/12/21、長岡.
2021-2023
- 角度分解EELSを用いた熱線遮蔽材料の誘電特性解析
佐藤庸平、町田佳輔、寺対正己、足立健治
日本顕微鏡学会、2021/6/15、つくば.
- SXESの基礎知識と使い方―何をどう見るか？―
寺内正己
第4回SXESスクール（オンライン）、2021/12/1-24.
- 顕微SXESの実用化とその材料研究への応用について
寺内正己
応用物理学会 光機能研究会、2022/2/25、オンライン.
- 「クライオ電子顕微鏡」産業界での利活用
寺内正己
KCみやぎセミナー、2022/11/24.
- SXESの基礎知識とその利用法―何がどう見えているかるか？―
寺内正己
第5回SXESスクール、2022/11/25.
- 軟X線顕微計測が世界を変える―放射光技術の商用化で開発加速を―
寺内正己
JAIMA未踏分析ウェビナー、2022/12/6
- “SXES“とは何か？〜化学結合分析〜
寺内正己
第6回SXESスクール Basic、2023/11/4、昭島
- SXESを用いた解析〜大学での応用例〜
寺内正己
第6回SXESスクール Advanced、2024/1/15、東京
- 分析電子顕微鏡を用いたホウ素・ホウ化物の電子状態解析（受賞講演）
寺内正己
日本ホウ素・ホウ化物研究会、2024/2/16、柏（東大サテライトキャンパス）
2024-2026
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