Publications in 1991

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  1. "先端材料評価のための電子顕微鏡技法",
    田中通義
    日本電子顕微鏡学会　東支部編 朝倉書店 分担執筆 (1991) 17-20, 220-221.

  2. "収束電子回折法による結晶点群および空間群の決定",
    田中通義
    実験物理学講座21 「電子回折・電子分光」 三宅静雄編 共立出版 分担執筆 (1991) 11章 483-530.

  3. "ウィーンフィルターを用いた高分解能エネルギー分析電子顕微鏡の開発",
    寺内正己、田中通義、津野勝重,
    細胞 23 (1991) 446-449.

  4. "電子回折法",
    田中通義
    第1回電子顕微鏡大学 （主催 日本電子顕微鏡学会） 於 工学院大学 講義テキスト (1991) 62-72.

  5. "収束電子回折法によるAl70Ni15Fe15準結晶の研究",
    津田健治、寺内正己、田中通義、斎藤雅和
    重点領域研究「準結晶の構造と物性」研究会報告 (1991) 9-11.

  6. "Size Quantization of Excitons in PbI2 Microcrystallites",
    T. Goto, S. Saito and M. Tanaka,
    Solid State Commun. 80 (1991) 331-334.

  7. "High-Resolution Electron Energy-Loss Spectra of Solid C60",
    R. Kuzuo, M. Terauchi, M. Tanaka, Y. Saito and H. Shinohara,
    Jpn. J. Appl. Phys. 30 (1991) L1817-1818.

  8. "Characterization of Icosahedral Quasicrystals by Convergent-Beam Electron Diffraction",
    M. Tanaka,
    Sci. Rep. of RITU. A 36 (1991) 159-170.

  9. "Space Groups of Metastable Crystalline Phases Formed in Amorphous Fe74R6B20 Alloys (R=Ce,Nd and Tb) Determined by Convergent-Beam Electron Diffraction",
    J-K. Kim, H. Saitoh, K. Tsuda, F. Satoh and K. Hirano,
    Mater. Trans., JIM 32 (1991) 526-530.

  10. "Microscopic Determination of Stress Distribution in GaAs Grown at Low Temperature on GaAs(100)",
    Z. Liliental-Weber, A. Ishikawa, M. Terauchi and M. Tanaka,
    Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 208 (1991) 183.

  11. "Identification of Lattice Defects by Convergent-Beam Electron Diffraction (Review) ",
    M. Tanaka, M. Terauchi and T. Kaneyama,
    J. Electron Microsc. 40 (1991) 211-220.

  12. "Performance of a New High-Resolution Electron Energy Loss Spectroscopy Microscope",
    M. Terauchi, R. Kuzuo, F. Satoh, M. Tanaka, K. Tsuno and J. Ohyama,
    Microsc. Microanal. Microstruct. 2 (1991) 351-358.

  13. "Toward Structure Determination Using Convergent-Beam Electron Diffraction",
    M. Tanaka and K. Tsuda,
    Proc. 25th Meeting of Microbeam Analysis Soc. San Jose. (1991) p145-146.