微細加工した絶縁体表面で電子の蓄積の観察に成功 ―最先端電磁場計測法である電子線ホログラフィーで可視化―
2016.06.07
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東北大学大学院生の築田直也、多元物質科学研究所の進藤大輔教授と理化学研究所の新津甲大特別研究員らの研究グループは、各種の絶縁体にイオンビームによる微細加工を施して形態を制御し、電子線照射により帯電した絶縁体試料表面で、放出された２次電子の蓄積を、電子線ホログラフィーにより可視化することに成功しました。
本研究成果は、日本顕微鏡学会 第72回学術講演会 仙台（2016.6.14-2016.6.16）で発表される予定です。
プレスリリース本文 (PDF)
(a)Ｙ字型に加工されたエポキシ樹脂試料周辺の電位分布を示す位相再生像。 (b)二階調化した振幅再生像。画像の青色領域は試料形状を示す。
Link:
進藤研究室（電子線干渉計測研究分野）
東北大学ウェブサイト
問い合わせ先
（研究に関すること）
国立大学法人東北大学多元物質科学研究所
教授 進藤 大輔（シンドウ ダイスケ）
TEL: 022-217-5170
E-mail: shindo*tagen.tohoku.ac.jp（*を@に置き換えてください）
助手 佐藤 隆文（サトウ タカフミ）
TEL: 022-217-5169
E-mail: t-sato*tagen.tohoku.ac.jp（*を@に置き換えてください）
（報道担当）
国立大学法人東北大学多元物質科学研究所
総務課総務係
TEL：022-217-5204
FAX：022-217-5211
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E-mail: shindo*tagen.tohoku.ac.jp（*を@に置き換えてください）
助手 佐藤 隆文（サトウ タカフミ）
TEL: 022-217-5169
E-mail: t-sato*tagen.tohoku.ac.jp（*を@に置き換えてください）
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